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3522270KFT

3522270KFT

참조 용

부품 번호 3522270KFT
PNEDA 부품 번호 3522270KFT
설명 RES SMD 270K OHM 1% 3W 2512
제조업체 TE Connectivity Passive Product
단가 견적 요청
재고 있음 22,866
창고 Shipped from Hong Kong SAR
예상 배송 11월 30 - 12월 5 (신속 배송 선택)
Guarantee 최대 1 년 [PNEDA- 보증] *

3522270KFT 리소스

브랜드 TE Connectivity Passive Product
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호3522270KFT
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장

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3522270KFT 사양

제조업체TE Connectivity Passive Product
시리즈3522, CGS
저항270 kOhms
공차±1%
전력 (와트)3W
구성Thick Film
특징-
온도 계수-
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스2512 (6432 Metric)
공급자 장치 패키지-
크기 / 치수0.250" L x 0.126" W (6.35mm x 3.20mm)
높이-착석 (최대)0.047" (1.20mm)
종료 횟수2
실패율-

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공차

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전력 (와트)

0.6W

구성

Metal Foil

특징

Anti-Sulfur, Moisture Resistant, Non-Inductive

온도 계수

±0.2ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 150°C

패키지 / 케이스

2512 (6432 Metric)

공급자 장치 패키지

2512

크기 / 치수

0.250" L x 0.126" W (6.35mm x 3.20mm)

높이-착석 (최대)

0.025" (0.64mm)

종료 횟수

2

실패율

-

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KOA Speer Electronics

시리즈

*

저항

-

공차

-

전력 (와트)

-

구성

-

특징

-

온도 계수

-

작동 온도

-

패키지 / 케이스

-

공급자 장치 패키지

-

크기 / 치수

-

높이-착석 (최대)

-

종료 횟수

-

실패율

-

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Stackpole Electronics

시리즈

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저항

130 kOhms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thin Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

RL73H2HR11FTDF

TE Connectivity Passive Product

제조업체

TE Connectivity Passive Product

시리즈

RL73, CGS

저항

110 mOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.75W, 3/4W

구성

Thick Film

특징

Current Sense

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

2010 (5025 Metric)

공급자 장치 패키지

2010

크기 / 치수

0.197" L x 0.098" W (5.00mm x 2.50mm)

높이-착석 (최대)

0.030" (0.75mm)

종료 횟수

2

실패율

-

TNPW0603100RBYTA

Vishay Dale

제조업체

Vishay Dale

시리즈

TNPW

저항

100 Ohms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thin Film

특징

Military

온도 계수

±10ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 125°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.061" L x 0.033" W (1.55mm x 0.85mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

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