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AA0805FR-07665RL

AA0805FR-07665RL

참조 용

부품 번호 AA0805FR-07665RL
PNEDA 부품 번호 AA0805FR-07665RL
설명 RES SMD 665 OHM 1% 1/8W 0805
제조업체 Yageo
단가 견적 요청
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AA0805FR-07665RL 리소스

브랜드 Yageo
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호AA0805FR-07665RL
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
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PDFAA2512FK-079R1L 데이터 시트 표지
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AA0805FR-07665RL 사양

제조업체Yageo
시리즈AA
저항665 Ohms
공차±1%
전력 (와트)0.125W, 1/8W
구성Thick Film
특징Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200, Moisture Resistant
온도 계수±150ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스0805 (2012 Metric)
공급자 장치 패키지0805
크기 / 치수0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)
높이-착석 (최대)0.024" (0.60mm)
종료 횟수2
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공차

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전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200, Moisture Resistant

온도 계수

±10ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.061" L x 0.033" W (1.55mm x 0.85mm)

높이-착석 (최대)

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Thick Film

특징

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온도 계수

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작동 온도

-55°C ~ 125°C

패키지 / 케이스

01005 (0402 Metric)

공급자 장치 패키지

01005

크기 / 치수

0.016" L x 0.008" W (0.40mm x 0.20mm)

높이-착석 (최대)

0.006" (0.15mm)

종료 횟수

2

실패율

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제조업체

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시리즈

HRG

저항

634 Ohms

공차

±0.1%

전력 (와트)

1W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200, Moisture Resistant

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.126" L x 0.065" W (3.20mm x 1.65mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

-

RCS08059R31FKEA

Vishay Dale

제조업체

Vishay Dale

시리즈

RCS

저항

9.31 Ohms

공차

±1%

전력 (와트)

0.4W, 2/5W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200, Pulse Withstanding

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.020" (0.50mm)

종료 횟수

2

실패율

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RQ73C2A137RBTD

TE Connectivity Passive Product

제조업체

TE Connectivity Passive Product

시리즈

RQ73

저항

137 Ohms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.2W, 1/5W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±10ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

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