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AC0402FR-0742K2L

AC0402FR-0742K2L

참조 용

부품 번호 AC0402FR-0742K2L
PNEDA 부품 번호 AC0402FR-0742K2L
설명 RES SMD 42.2K OHM 1% 1/16W 0402
제조업체 Yageo
단가 견적 요청
재고 있음 6,372
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예상 배송 12월 29 - 1월 3 (신속 배송 선택)
Guarantee 최대 1 년 [PNEDA- 보증] *

AC0402FR-0742K2L 리소스

브랜드 Yageo
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호AC0402FR-0742K2L
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
AC0402FR-0742K2L, AC0402FR-0742K2L 데이터 시트 (총 페이지: 12, 크기: 936.84 KB)
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AC0402FR-0742K2L 사양

제조업체Yageo
시리즈AC
저항42.2 kOhms
공차±1%
전력 (와트)0.063W, 1/16W
구성Thick Film
특징Automotive AEC-Q200, Moisture Resistant
온도 계수±100ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스0402 (1005 Metric)
공급자 장치 패키지0402
크기 / 치수0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)
높이-착석 (최대)0.015" (0.37mm)
종료 횟수2
실패율-

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제조업체

Vishay Dale

시리즈

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저항

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공차

±0.1%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thin Film

특징

Military

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 125°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.061" L x 0.033" W (1.55mm x 0.85mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

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저항

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공차

±1%

전력 (와트)

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구성

Thick Film

특징

-

온도 계수

±200ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0201 (0603 Metric)

공급자 장치 패키지

0201

크기 / 치수

0.024" L x 0.012" W (0.60mm x 0.30mm)

높이-착석 (최대)

0.011" (0.28mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Susumu

시리즈

RG

저항

316 kOhms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±10ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.020" (0.50mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

RT

저항

158 Ohms

공차

±0.05%

전력 (와트)

0.25W, 1/4W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 125°C

패키지 / 케이스

1210 (3225 Metric)

공급자 장치 패키지

1210

크기 / 치수

0.122" L x 0.102" W (3.10mm x 2.60mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

RT

저항

91 Ohms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.063W, 1/16W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0402 (1005 Metric)

공급자 장치 패키지

0402

크기 / 치수

0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)

높이-착석 (최대)

0.014" (0.35mm)

종료 횟수

2

실패율

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