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AT0805BRD0718K2L

AT0805BRD0718K2L

참조 용

부품 번호 AT0805BRD0718K2L
PNEDA 부품 번호 AT0805BRD0718K2L
설명 RES SMD 18.2K OHM 0.1% 1/8W 0805
제조업체 Yageo
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Guarantee 최대 1 년 [PNEDA- 보증] *

AT0805BRD0718K2L 리소스

브랜드 Yageo
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호AT0805BRD0718K2L
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장

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  • AT0805BRD0718K2L Distributor

AT0805BRD0718K2L 사양

제조업체Yageo
시리즈AT
저항18.2 kOhms
공차±0.1%
전력 (와트)0.125W, 1/8W
구성Thin Film
특징Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200, Moisture Resistant
온도 계수±25ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스0805 (2012 Metric)
공급자 장치 패키지0805
크기 / 치수0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)
높이-착석 (최대)0.024" (0.60mm)
종료 횟수2
실패율-

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저항

1.74 kOhms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.2W, 1/5W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200, Pulse Withstanding

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

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구성

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특징

Moisture Resistant, Non-Inductive, Pulse Withstanding

온도 계수

±0.2ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 175°C

패키지 / 케이스

2512 J-Lead

공급자 장치 패키지

SMD

크기 / 치수

0.236" L x 0.126" W (5.99mm x 3.20mm)

높이-착석 (최대)

0.110" (2.79mm)

종료 횟수

2

실패율

-

CRGCQ2512J3M3

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제조업체

TE Connectivity Passive Product

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CRGCQ

저항

3.3 MOhms

공차

±5%

전력 (와트)

1W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200, Moisture Resistant

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

2512 (6432 Metric)

공급자 장치 패키지

2512

크기 / 치수

0.250" L x 0.126" W (6.35mm x 3.20mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

TNPW0805127KBEEA

Vishay Dale

제조업체

Vishay Dale

시리즈

TNPW e3

저항

127 kOhms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.2W, 1/5W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200, Moisture Resistant

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

-

RU73X2A681RLTDF

TE Connectivity Passive Product

제조업체

TE Connectivity Passive Product

시리즈

*

저항

-

공차

-

전력 (와트)

-

구성

-

특징

-

온도 계수

-

작동 온도

-

패키지 / 케이스

-

공급자 장치 패키지

-

크기 / 치수

-

높이-착석 (최대)

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종료 횟수

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실패율

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