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CR0402-FX-18R2GLF

CR0402-FX-18R2GLF

참조 용

부품 번호 CR0402-FX-18R2GLF
PNEDA 부품 번호 CR0402-FX-18R2GLF
설명 RES SMD 18.2 OHM 1% 1/16W 0402
제조업체 Bourns
단가 견적 요청
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CR0402-FX-18R2GLF 리소스

브랜드 Bourns
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호CR0402-FX-18R2GLF
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
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CR0402-FX-18R2GLF 사양

제조업체Bourns
시리즈CR0402
저항18.2 Ohms
공차±1%
전력 (와트)0.063W, 1/16W
구성Thick Film
특징-
온도 계수±100ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스0402 (1005 Metric)
공급자 장치 패키지0402
크기 / 치수0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)
높이-착석 (최대)0.016" (0.40mm)
종료 횟수2
실패율-

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시리즈

RT

저항

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공차

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구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±10ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 125°C

패키지 / 케이스

1210 (3225 Metric)

공급자 장치 패키지

1210

크기 / 치수

0.122" L x 0.102" W (3.10mm x 2.60mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

AF

저항

10 kOhms

공차

±5%

전력 (와트)

0.75W, 3/4W

구성

Thick Film

특징

Anti-Sulfur, Moisture Resistant

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

2010 (5025 Metric)

공급자 장치 패키지

2010

크기 / 치수

0.197" L x 0.098" W (5.00mm x 2.50mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

RNCF0603DTC2R61

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제조업체

Stackpole Electronics

시리즈

RNCF

저항

2.61 Ohms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.063W, 1/16W

구성

Thin Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.061" L x 0.031" W (1.55mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

-

Y40235R00000D9W

VPG Foil Resistors

제조업체

VPG Foil Resistors

시리즈

FRSM

저항

5 Ohms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.3W

구성

Metal Foil

특징

Moisture Resistant, Non-Inductive

온도 계수

±0.2ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 150°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.126" L x 0.062" W (3.20mm x 1.57mm)

높이-착석 (최대)

0.025" (0.64mm)

종료 횟수

2

실패율

-

RCP1206B62R0GWB

Vishay Dale

제조업체

Vishay Dale

시리즈

RCP

저항

62 Ohms

공차

±2%

전력 (와트)

2.4W

구성

Thick Film

특징

Moisture Resistant

온도 계수

±150ppm/°C

작동 온도

-65°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.122" L x 0.060" W (3.10mm x 1.52mm)

높이-착석 (최대)

0.025" (0.64mm)

종료 횟수

2

실패율

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