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CR0402-FX-3482GLF

CR0402-FX-3482GLF

참조 용

부품 번호 CR0402-FX-3482GLF
PNEDA 부품 번호 CR0402-FX-3482GLF
설명 RES SMD 34.8K OHM 1% 1/16W 0402
제조업체 Bourns
단가 견적 요청
재고 있음 8,694
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CR0402-FX-3482GLF 리소스

브랜드 Bourns
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호CR0402-FX-3482GLF
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
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CR0402-FX-3482GLF 사양

제조업체Bourns
시리즈CR0402
저항34.8 kOhms
공차±1%
전력 (와트)0.063W, 1/16W
구성Thick Film
특징-
온도 계수±100ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스0402 (1005 Metric)
공급자 장치 패키지0402
크기 / 치수0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)
높이-착석 (최대)0.016" (0.40mm)
종료 횟수2
실패율-

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시리즈

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저항

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공차

±1%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

-

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시리즈

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저항

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공차

±1%

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구성

Thick Film

특징

Moisture Resistant

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1210 (3225 Metric)

공급자 장치 패키지

1210

크기 / 치수

0.122" L x 0.102" W (3.10mm x 2.60mm)

높이-착석 (최대)

0.024" (0.60mm)

종료 횟수

2

실패율

-

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제조업체

Vishay Beyschlag

시리즈

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저항

910 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0402 (1005 Metric)

공급자 장치 패키지

0402

크기 / 치수

0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)

높이-착석 (최대)

0.015" (0.37mm)

종료 횟수

2

실패율

-

TNPW06034K42BEEA

Vishay Dale

제조업체

Vishay Dale

시리즈

TNPW e3

저항

4.42 kOhms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200, Moisture Resistant

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.033" W (1.60mm x 0.85mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

-

RN73C2A46K4BTD

TE Connectivity Passive Product

제조업체

TE Connectivity Passive Product

시리즈

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저항

46.4 kOhms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±10ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

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