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CRCW06031M91FKEA

CRCW06031M91FKEA

참조 용

부품 번호 CRCW06031M91FKEA
PNEDA 부품 번호 CRCW06031M91FKEA
설명 RES SMD 1.91M OHM 1% 1/10W 0603
제조업체 Vishay Dale
단가 견적 요청
재고 있음 302,844
창고 Shipped from Hong Kong SAR
예상 배송 11월 29 - 12월 4 (신속 배송 선택)
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CRCW06031M91FKEA 리소스

브랜드 Vishay Dale
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호CRCW06031M91FKEA
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
CRCW06031M91FKEA, CRCW06031M91FKEA 데이터 시트 (총 페이지: 10, 크기: 128.97 KB)
PDFCRCW0805511RJNEA 데이터 시트 표지
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CRCW06031M91FKEA 사양

제조업체Vishay Dale
시리즈CRCW
저항1.91 MOhms
공차±1%
전력 (와트)0.1W, 1/10W
구성Thick Film
특징Automotive AEC-Q200
온도 계수±100ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스0603 (1608 Metric)
공급자 장치 패키지0603
크기 / 치수0.063" L x 0.033" W (1.60mm x 0.85mm)
높이-착석 (최대)0.020" (0.50mm)
종료 횟수2
실패율-

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저항

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공차

±1%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

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공차

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구성

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특징

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온도 계수

±2ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 175°C

패키지 / 케이스

3017 J-Lead

공급자 장치 패키지

SMD, Stand Off

크기 / 치수

0.287" L x 0.170" W (7.29mm x 4.32mm)

높이-착석 (최대)

0.122" (3.10mm)

종료 횟수

2

실패율

-

RCP1206B510RJEC

Vishay Dale

제조업체

Vishay Dale

시리즈

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저항

510 Ohms

공차

±5%

전력 (와트)

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구성

Thick Film

특징

Moisture Resistant

온도 계수

±150ppm/°C

작동 온도

-65°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.122" L x 0.060" W (3.10mm x 1.52mm)

높이-착석 (최대)

0.025" (0.64mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

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시리즈

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저항

2.7 kOhms

공차

±0.05%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±10ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.020" (0.50mm)

종료 횟수

2

실패율

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저항

10 Ohms

공차

±5%

전력 (와트)

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구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200, Pulse Withstanding

온도 계수

±200ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

2010 (5025 Metric)

공급자 장치 패키지

2010

크기 / 치수

0.197" L x 0.098" W (5.00mm x 2.50mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

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