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CRCW08052K80FKEBC

CRCW08052K80FKEBC

참조 용

부품 번호 CRCW08052K80FKEBC
PNEDA 부품 번호 CRCW08052K80FKEBC
설명 RES 2.8K OHM 1% 1/8W 0805
제조업체 Vishay Dale
단가 견적 요청
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CRCW08052K80FKEBC 리소스

브랜드 Vishay Dale
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호CRCW08052K80FKEBC
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
CRCW08052K80FKEBC, CRCW08052K80FKEBC 데이터 시트 (총 페이지: 5, 크기: 95.14 KB)
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CRCW08052K80FKEBC 사양

제조업체Vishay Dale
시리즈CRCW-C
저항2.8 kOhms
공차±1%
전력 (와트)0.125W, 1/8W
구성Thick Film
특징-
온도 계수±100ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스0805 (2012 Metric)
공급자 장치 패키지0805
크기 / 치수0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)
높이-착석 (최대)0.024" (0.60mm)
종료 횟수2
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Stackpole Electronics

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구성

Thin Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

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패키지 / 케이스

2512 (6432 Metric)

공급자 장치 패키지

2512

크기 / 치수

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구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200, Pulse Withstanding

온도 계수

±200ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.030" (0.75mm)

종료 횟수

2

실패율

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Vishay Dale

제조업체

Vishay Dale

시리즈

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저항

50 mOhms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Metal Element

특징

Automotive AEC-Q200, Current Sense, Moisture Resistant, Pulse Withstanding

온도 계수

±75ppm/°C

작동 온도

-65°C ~ 170°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.080" L x 0.050" W (2.03mm x 1.27mm)

높이-착석 (최대)

0.018" (0.46mm)

종료 횟수

2

실패율

-

RMCF0603FG887K

Stackpole Electronics

제조업체

Stackpole Electronics

시리즈

RMCF

저항

887 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.061" L x 0.031" W (1.55mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

-

RNCF0805BTC37R4

Stackpole Electronics

제조업체

Stackpole Electronics

시리즈

RNCF

저항

37.4 Ohms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thin Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

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