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CRG0201F205K

CRG0201F205K

참조 용

부품 번호 CRG0201F205K
PNEDA 부품 번호 CRG0201F205K
설명 RES SMD 205K OHM 1% 1/20W 0201
제조업체 TE Connectivity Passive Product
단가 견적 요청
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Guarantee 최대 1 년 [PNEDA- 보증] *

CRG0201F205K 리소스

브랜드 TE Connectivity Passive Product
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호CRG0201F205K
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장

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CRG0201F205K 사양

제조업체TE Connectivity Passive Product
시리즈CRG, Neohm
저항205 kOhms
공차±1%
전력 (와트)0.05W, 1/20W
구성Thick Film
특징-
온도 계수±200ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 125°C
패키지 / 케이스0201 (0603 Metric)
공급자 장치 패키지0201
크기 / 치수0.024" L x 0.012" W (0.60mm x 0.30mm)
높이-착석 (최대)0.010" (0.26mm)
종료 횟수2
실패율-

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WSL2512R3000FEA

Vishay Dale

제조업체

Vishay Dale

시리즈

WSL

저항

300 mOhms

공차

±1%

전력 (와트)

1W

구성

Metal Element

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200, Current Sense, Moisture Resistant, Pulse Withstanding

온도 계수

±75ppm/°C

작동 온도

-65°C ~ 170°C

패키지 / 케이스

2512 (6432 Metric)

공급자 장치 패키지

2512

크기 / 치수

0.250" L x 0.125" W (6.35mm x 3.18mm)

높이-착석 (최대)

0.035" (0.89mm)

종료 횟수

2

실패율

-

RN73H1ETTP9881F10

KOA Speer Electronics

제조업체

KOA Speer Electronics

시리즈

*

저항

-

공차

-

전력 (와트)

-

구성

-

특징

-

온도 계수

-

작동 온도

-

패키지 / 케이스

-

공급자 장치 패키지

-

크기 / 치수

-

높이-착석 (최대)

-

종료 횟수

-

실패율

-

제조업체

Susumu

시리즈

HRG

저항

4.99 kOhms

공차

±0.1%

전력 (와트)

1W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200, Moisture Resistant

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.126" L x 0.065" W (3.20mm x 1.65mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

-

SM4527JTR270

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제조업체

Stackpole Electronics

시리즈

SM

저항

270 mOhms

공차

±5%

전력 (와트)

2W

구성

Wirewound

특징

Moisture Resistant, Pulse Withstanding

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 275°C

패키지 / 케이스

4527 J-Lead

공급자 장치 패키지

4527

크기 / 치수

0.476" L x 0.272" W (12.10mm x 6.90mm)

높이-착석 (최대)

0.230" (5.84mm)

종료 횟수

2

실패율

-

RN73H1ETTP2490B10

KOA Speer Electronics

제조업체

KOA Speer Electronics

시리즈

*

저항

-

공차

-

전력 (와트)

-

구성

-

특징

-

온도 계수

-

작동 온도

-

패키지 / 케이스

-

공급자 장치 패키지

-

크기 / 치수

-

높이-착석 (최대)

-

종료 횟수

-

실패율

-

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