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CRGCQ0402F3K9

CRGCQ0402F3K9

참조 용

부품 번호 CRGCQ0402F3K9
PNEDA 부품 번호 CRGCQ0402F3K9
설명 CRGCQ 0402 3K9 1%
제조업체 TE Connectivity Passive Product
단가 견적 요청
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CRGCQ0402F3K9 리소스

브랜드 TE Connectivity Passive Product
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호CRGCQ0402F3K9
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장

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CRGCQ0402F3K9 사양

제조업체TE Connectivity Passive Product
시리즈CRGCQ
저항3.9 kOhms
공차±1%
전력 (와트)0.063W, 1/16W
구성Thick Film
특징Automotive AEC-Q200, Moisture Resistant
온도 계수±100ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스0402 (1005 Metric)
공급자 장치 패키지0402
크기 / 치수0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)
높이-착석 (최대)0.016" (0.40mm)
종료 횟수2
실패율-

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제조업체

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시리즈

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저항

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공차

±5%

전력 (와트)

0.5W, 1/2W

구성

Thick Film

특징

Current Sense

온도 계수

-

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.120" L x 0.061" W (3.05mm x 1.55mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

RT

저항

787 kOhms

공차

±0.25%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.024" (0.60mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

PE

저항

17 mOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.5W, 1/2W

구성

Metal Foil

특징

Automotive AEC-Q200, Current Sense, Moisture Resistant

온도 계수

±75ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 170°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.080" L x 0.050" W (2.03mm x 1.27mm)

높이-착석 (최대)

0.024" (0.60mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

RT

저항

100 kOhms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.5W, 1/2W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±10ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 125°C

패키지 / 케이스

2010 (5025 Metric)

공급자 장치 패키지

2010

크기 / 치수

0.197" L x 0.098" W (5.00mm x 2.50mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

RK73H1JTTD2321F

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제조업체

KOA Speer Electronics

시리즈

RK73H

저항

2.32 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

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