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D55342E07B2E21PWP

D55342E07B2E21PWP

참조 용

부품 번호 D55342E07B2E21PWP
PNEDA 부품 번호 D55342E07B2E21PWP
설명 RES SMD 2.21K OHM 1% 1/4W 1206
제조업체 Vishay Dale
단가 견적 요청
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창고 Shipped from Hong Kong SAR
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D55342E07B2E21PWP 리소스

브랜드 Vishay Dale
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호D55342E07B2E21PWP
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
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D55342E07B2E21PWP 사양

제조업체Vishay Dale
시리즈Military, MIL-PRF-55342, RM1206
저항2.21 kOhms
공차±1%
전력 (와트)0.25W, 1/4W
구성Thin Film
특징Military, Non-Inductive
온도 계수±25ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 150°C
패키지 / 케이스1206 (3216 Metric)
공급자 장치 패키지1206
크기 / 치수0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm)
높이-착석 (최대)0.033" (0.84mm)
종료 횟수2
실패율P (0.1%)

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Panasonic Electronic Components

시리즈

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저항

14.3 Ohms

공차

±1%

전력 (와트)

0.05W, 1/20W

구성

Thick Film

특징

-

온도 계수

±200ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 125°C

패키지 / 케이스

0201 (0603 Metric)

공급자 장치 패키지

0201

크기 / 치수

0.024" L x 0.012" W (0.60mm x 0.30mm)

높이-착석 (최대)

0.010" (0.26mm)

종료 횟수

2

실패율

-

CRCW020110R5FNED

Vishay Dale

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Vishay Dale

시리즈

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저항

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공차

±1%

전력 (와트)

0.05W, 1/20W

구성

Thick Film

특징

-

온도 계수

±200ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0201 (0603 Metric)

공급자 장치 패키지

0201

크기 / 치수

0.024" L x 0.012" W (0.60mm x 0.30mm)

높이-착석 (최대)

0.011" (0.28mm)

종료 횟수

2

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Samsung Electro-Mechanics

시리즈

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구성

Thick Film

특징

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온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.66mm)

종료 횟수

2

실패율

-

RNCF1206BTC191R

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제조업체

Stackpole Electronics

시리즈

RNCF

저항

191 Ohms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.333W, 1/3W

구성

Thin Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.120" L x 0.061" W (3.05mm x 1.55mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

CRCW04025R10FKTD

Vishay Dale

제조업체

Vishay Dale

시리즈

CRCW

저항

5.1 Ohms

공차

±1%

전력 (와트)

0.063W, 1/16W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0402 (1005 Metric)

공급자 장치 패키지

0402

크기 / 치수

0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)

높이-착석 (최대)

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실패율

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