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D55342E07B5B83RWS

D55342E07B5B83RWS

참조 용

부품 번호 D55342E07B5B83RWS
PNEDA 부품 번호 D55342E07B5B83RWS
설명 RES SMD 5.83K OHM 0.1% 1/4W 1206
제조업체 Vishay Dale
단가 견적 요청
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창고 Shipped from Hong Kong SAR
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D55342E07B5B83RWS 리소스

브랜드 Vishay Dale
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호D55342E07B5B83RWS
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
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D55342E07B5B83RWS 사양

제조업체Vishay Dale
시리즈Military, MIL-PRF-55342, RM1206
저항5.83 kOhms
공차±0.1%
전력 (와트)0.25W, 1/4W
구성Thin Film
특징Military, Non-Inductive
온도 계수±25ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 150°C
패키지 / 케이스1206 (3216 Metric)
공급자 장치 패키지1206
크기 / 치수0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm)
높이-착석 (최대)0.033" (0.84mm)
종료 횟수2
실패율R (0.01%)

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저항

34 Ohms

공차

±0.25%

전력 (와트)

0.25W, 1/4W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±15ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.122" L x 0.063" W (3.10mm x 1.60mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

SM4124FTR267

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시리즈

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저항

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±1%

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구성

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특징

Moisture Resistant, Pulse Withstanding

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 275°C

패키지 / 케이스

4124 J-Lead

공급자 장치 패키지

4124

크기 / 치수

0.429" L x 0.240" W (10.90mm x 6.10mm)

높이-착석 (최대)

0.195" (4.95mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

RT

저항

1.74 kOhms

공차

±0.25%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.024" (0.60mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

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시리즈

RG

저항

365 Ohms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.25W, 1/4W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±5ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm)

높이-착석 (최대)

0.020" (0.50mm)

종료 횟수

2

실패율

-

SMM02040D5760BB300

Vishay Beyschlag

제조업체

Vishay Beyschlag

시리즈

SMM0204

저항

576 Ohms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.25W, 1/4W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200, Pulse Withstanding

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 125°C

패키지 / 케이스

MELF, 0204

공급자 장치 패키지

Mini MELF

크기 / 치수

0.055" Dia x 0.142" L (1.40mm x 3.60mm)

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종료 횟수

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실패율

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