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ERA-3YEB241V

ERA-3YEB241V

참조 용

부품 번호 ERA-3YEB241V
PNEDA 부품 번호 ERA-3YEB241V
설명 RES SMD 240 OHM 0.1% 1/10W 0603
제조업체 Panasonic Electronic Components
단가 견적 요청
재고 있음 87,786
창고 Shipped from Hong Kong SAR
예상 배송 11월 29 - 12월 4 (신속 배송 선택)
Guarantee 최대 1 년 [PNEDA- 보증] *

ERA-3YEB241V 리소스

브랜드 Panasonic Electronic Components
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호ERA-3YEB241V
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
ERA-3YEB241V, ERA-3YEB241V 데이터 시트 (총 페이지: 10, 크기: 238.7 KB)
PDFERA-3EKD6812V 데이터 시트 표지
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  • ERA-3YEB241V Distributor

ERA-3YEB241V 사양

제조업체Panasonic Electronic Components
시리즈ERA-3Y
저항240 Ohms
공차±0.1%
전력 (와트)0.1W, 1/10W
구성Thin Film
특징-
온도 계수±25ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 125°C
패키지 / 케이스0603 (1608 Metric)
공급자 장치 패키지0603
크기 / 치수0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)
높이-착석 (최대)0.022" (0.55mm)
종료 횟수2
실패율-

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시리즈

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저항

221 Ohms

공차

±1%

전력 (와트)

0.4W, 2/5W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

MELF, 0204

공급자 장치 패키지

0204

크기 / 치수

0.055" Dia x 0.142" L (1.40mm x 3.60mm)

높이-착석 (최대)

-

종료 횟수

2

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제조업체

KOA Speer Electronics

시리즈

*

저항

-

공차

-

전력 (와트)

-

구성

-

특징

-

온도 계수

-

작동 온도

-

패키지 / 케이스

-

공급자 장치 패키지

-

크기 / 치수

-

높이-착석 (최대)

-

종료 횟수

-

실패율

-

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시리즈

RNCF

저항

57.6 Ohms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.063W, 1/16W

구성

Thin Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0402 (1005 Metric)

공급자 장치 패키지

0402

크기 / 치수

0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)

높이-착석 (최대)

0.014" (0.35mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

RT

저항

120 kOhms

공차

±0.25%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±15ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.024" (0.60mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

RT

저항

45.3 Ohms

공차

±0.25%

전력 (와트)

0.25W, 1/4W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.122" L x 0.063" W (3.10mm x 1.60mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

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