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M55342K06B100ERWSV

M55342K06B100ERWSV

참조 용

부품 번호 M55342K06B100ERWSV
PNEDA 부품 번호 M55342K06B100ERWSV
설명 RES SMD 100K OHM 1% 0.15W 0705
제조업체 Vishay Dale
단가 견적 요청
재고 있음 5,760
창고 Shipped from Hong Kong SAR
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M55342K06B100ERWSV 리소스

브랜드 Vishay Dale
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호M55342K06B100ERWSV
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
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M55342K06B100ERWSV 사양

제조업체Vishay Dale
시리즈Military, MIL-PRF-55342, RM0705
저항100 kOhms
공차±1%
전력 (와트)0.15W
구성Thin Film
특징Military, Non-Inductive
온도 계수±100ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 150°C
패키지 / 케이스0805 (2012 Metric)
공급자 장치 패키지0705
크기 / 치수0.080" L x 0.050" W (2.03mm x 1.27mm)
높이-착석 (최대)0.033" (0.84mm)
종료 횟수2
실패율R (0.01%)

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저항

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공차

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구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

-

ERJ-S14D6190U

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Panasonic Electronic Components

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공차

±0.5%

전력 (와트)

0.5W, 1/2W

구성

Thick Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1210 (3225 Metric)

공급자 장치 패키지

1210

크기 / 치수

0.126" L x 0.098" W (3.20mm x 2.50mm)

높이-착석 (최대)

0.028" (0.70mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

MMF

저항

220 Ohms

공차

±1%

전력 (와트)

1W

구성

Metal Film

특징

-

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

MELF, 0309

공급자 장치 패키지

MELF

크기 / 치수

0.126" Dia x 0.335" L (3.20mm x 8.50mm)

높이-착석 (최대)

-

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

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시리즈

RG

저항

931 kOhms

공차

±0.05%

전력 (와트)

0.25W, 1/4W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm)

높이-착석 (최대)

0.020" (0.50mm)

종료 횟수

2

실패율

-

PWR6327WR005J

Bourns

제조업체

Bourns

시리즈

PWR6327

저항

5 mOhms

공차

±5%

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3W

구성

Wirewound

특징

Current Sense, Moisture Resistant, Non-Inductive, Pulse Withstanding

온도 계수

±150ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 275°C

패키지 / 케이스

6327 J-Lead

공급자 장치 패키지

-

크기 / 치수

0.626" L x 0.272" W (15.90mm x 6.90mm)

높이-착석 (최대)

0.268" (6.80mm)

종료 횟수

2

실패율

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