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RCL12181R15FKEK

RCL12181R15FKEK

참조 용

부품 번호 RCL12181R15FKEK
PNEDA 부품 번호 RCL12181R15FKEK
설명 RES SMD 1.15 OHM 1W 1812 WIDE
제조업체 Vishay Dale
단가 견적 요청
재고 있음 6,174
창고 Shipped from Hong Kong SAR
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Guarantee 최대 1 년 [PNEDA- 보증] *

RCL12181R15FKEK 리소스

브랜드 Vishay Dale
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호RCL12181R15FKEK
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
RCL12181R15FKEK, RCL12181R15FKEK 데이터 시트 (총 페이지: 9, 크기: 135.17 KB)
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RCL12181R15FKEK 사양

제조업체Vishay Dale
시리즈RCL
저항1.15 Ohms
공차±1%
전력 (와트)1W
구성Thick Film
특징Automotive AEC-Q200
온도 계수±100ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스Wide 1812 (4532 Metric), 1218
공급자 장치 패키지1218
크기 / 치수0.126" L x 0.181" W (3.20mm x 4.60mm)
높이-착석 (최대)0.024" (0.60mm)
종료 횟수2
실패율-

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공차

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구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±10ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

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공차

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전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thick Film

특징

-

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.024" (0.60mm)

종료 횟수

2

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Samsung Electro-Mechanics

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공차

±5%

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구성

Thick Film

특징

Moisture Resistant

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

2010 (5025 Metric)

공급자 장치 패키지

2010

크기 / 치수

0.197" L x 0.098" W (5.00mm x 2.50mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.66mm)

종료 횟수

2

실패율

-

ERJ-XGNF4121Y

Panasonic Electronic Components

제조업체

Panasonic Electronic Components

시리즈

ERJ

저항

4.12 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.03W, 1/32W

구성

Thick Film

특징

-

온도 계수

±200ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 125°C

패키지 / 케이스

01005 (0402 Metric)

공급자 장치 패키지

01005

크기 / 치수

0.016" L x 0.008" W (0.40mm x 0.20mm)

높이-착석 (최대)

0.006" (0.15mm)

종료 횟수

2

실패율

-

RNCF0805BTC147K

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제조업체

Stackpole Electronics

시리즈

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저항

147 kOhms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thin Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

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