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RG1608N-2102-B-T5

RG1608N-2102-B-T5

참조 용

부품 번호 RG1608N-2102-B-T5
PNEDA 부품 번호 RG1608N-2102-B-T5
설명 RES SMD 21K OHM 0.1% 1/10W 0603
제조업체 Susumu
단가 견적 요청
재고 있음 3,204
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Guarantee 최대 1 년 [PNEDA- 보증] *

RG1608N-2102-B-T5 리소스

브랜드 Susumu
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호RG1608N-2102-B-T5
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
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RG1608N-2102-B-T5 사양

제조업체Susumu
시리즈RG
저항21 kOhms
공차±0.1%
전력 (와트)0.1W, 1/10W
구성Thin Film
특징Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200
온도 계수±10ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스0603 (1608 Metric)
공급자 장치 패키지0603
크기 / 치수0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)
높이-착석 (최대)0.020" (0.50mm)
종료 횟수2
실패율-

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제조업체

Susumu

시리즈

RG

저항

470 Ohms

공차

±0.02%

전력 (와트)

0.063W, 1/16W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±5ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0402 (1005 Metric)

공급자 장치 패키지

0402

크기 / 치수

0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)

높이-착석 (최대)

0.016" (0.40mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

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시리즈

MMF

저항

14.3 kOhms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.4W, 2/5W

구성

Metal Film

특징

-

온도 계수

±15ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

MELF, 0204

공급자 장치 패키지

MELF

크기 / 치수

0.055" Dia x 0.138" L (1.40mm x 3.50mm)

높이-착석 (최대)

-

종료 횟수

2

실패율

-

MCR100JZHF5111

Rohm Semiconductor

제조업체

Rohm Semiconductor

시리즈

MCR

저항

5.11 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

1W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 125°C

패키지 / 케이스

2512 (6432 Metric)

공급자 장치 패키지

2512

크기 / 치수

0.248" L x 0.126" W (6.30mm x 3.20mm)

높이-착석 (최대)

0.028" (0.70mm)

종료 횟수

2

실패율

-

Y14880R20000D5W

VPG Foil Resistors

제조업체

VPG Foil Resistors

시리즈

CSM

저항

200 mOhms

공차

±0.5%

전력 (와트)

2W

구성

Metal Foil

특징

Current Sense, Moisture Resistant

온도 계수

±15ppm/°C

작동 온도

-65°C ~ 170°C

패키지 / 케이스

Nonstandard

공급자 장치 패키지

3637

크기 / 치수

0.360" L x 0.370" W (9.14mm x 9.40mm)

높이-착석 (최대)

0.035" (0.89mm)

종료 횟수

4

실패율

-

CPF0603B14RE

TE Connectivity Passive Product

제조업체

TE Connectivity Passive Product

시리즈

*

저항

-

공차

-

전력 (와트)

-

구성

-

특징

-

온도 계수

-

작동 온도

-

패키지 / 케이스

-

공급자 장치 패키지

-

크기 / 치수

-

높이-착석 (최대)

-

종료 횟수

-

실패율

-

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