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RGT1608P-274-B-T5

RGT1608P-274-B-T5

참조 용

부품 번호 RGT1608P-274-B-T5
PNEDA 부품 번호 RGT1608P-274-B-T5
설명 0603 SIZE, 0.0625W, 270K OHM, 0.
제조업체 Susumu
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RGT1608P-274-B-T5 리소스

브랜드 Susumu
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호RGT1608P-274-B-T5
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
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RGT1608P-274-B-T5 사양

제조업체Susumu
시리즈RGT
저항270 kOhms
공차±0.1%
전력 (와트)0.063W, 1/16W
구성Thin Film
특징Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200
온도 계수±25ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 175°C
패키지 / 케이스0603 (1608 Metric)
공급자 장치 패키지0603
크기 / 치수0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)
높이-착석 (최대)0.022" (0.55mm)
종료 횟수2
실패율-

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시리즈

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저항

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공차

±5%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thick Film

특징

-

온도 계수

±200ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

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시리즈

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공차

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구성

Thick Film

특징

-

온도 계수

±200ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 125°C

패키지 / 케이스

01005 (0402 Metric)

공급자 장치 패키지

01005

크기 / 치수

0.016" L x 0.008" W (0.40mm x 0.20mm)

높이-착석 (최대)

0.006" (0.15mm)

종료 횟수

2

실패율

-

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Panasonic Electronic Components

제조업체

Panasonic Electronic Components

시리즈

ERJ

저항

10 kOhms

공차

±5%

전력 (와트)

0.25W, 1/4W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±200ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm)

높이-착석 (최대)

0.028" (0.70mm)

종료 횟수

2

실패율

-

ERA-3AEB304V

Panasonic Electronic Components

제조업체

Panasonic Electronic Components

시리즈

ERA-3A

저항

300 kOhms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thin Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

-

RNCF0805DTC59K0

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제조업체

Stackpole Electronics

시리즈

RNCF

저항

59 kOhms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thin Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

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