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RK73G1ETTP21R0D

RK73G1ETTP21R0D

참조 용

부품 번호 RK73G1ETTP21R0D
PNEDA 부품 번호 RK73G1ETTP21R0D
설명 RES 21 OHM 0.50% 1/10W 0402
제조업체 KOA Speer Electronics
단가 견적 요청
재고 있음 8,262
창고 Shipped from Hong Kong SAR
예상 배송 12월 29 - 1월 3 (신속 배송 선택)
Guarantee 최대 1 년 [PNEDA- 보증] *

RK73G1ETTP21R0D 리소스

브랜드 KOA Speer Electronics
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호RK73G1ETTP21R0D
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
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RK73G1ETTP21R0D 사양

제조업체KOA Speer Electronics
시리즈RK73G
저항21 Ohms
공차±0.5%
전력 (와트)0.1W, 1/10W
구성Thick Film
특징Automotive AEC-Q200
온도 계수±50ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스0402 (1005 Metric)
공급자 장치 패키지0402
크기 / 치수0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)
높이-착석 (최대)0.016" (0.40mm)
종료 횟수2
실패율-

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구성

Metal Foil

특징

Moisture Resistant, Non-Inductive

온도 계수

±0.2ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 150°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.126" L x 0.062" W (3.20mm x 1.57mm)

높이-착석 (최대)

0.025" (0.64mm)

종료 횟수

2

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저항

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공차

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전력 (와트)

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구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±15ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.120" L x 0.061" W (3.05mm x 1.55mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

RT

저항

340 kOhms

공차

±0.25%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±15ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.024" (0.60mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Bourns

시리즈

CRT

저항

4.75 kOhms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thin Film

특징

Current Sense

온도 계수

±10ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.061" L x 0.031" W (1.55mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.024" (0.60mm)

종료 횟수

2

실패율

-

SMM02040C3609FB300

Vishay Beyschlag

제조업체

Vishay Beyschlag

시리즈

SMM0204

저항

36 Ohms

공차

±1%

전력 (와트)

0.25W, 1/4W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200, Pulse Withstanding

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 125°C

패키지 / 케이스

MELF, 0204

공급자 장치 패키지

Mini MELF

크기 / 치수

0.055" Dia x 0.142" L (1.40mm x 3.60mm)

높이-착석 (최대)

-

종료 횟수

2

실패율

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