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RK73G1JTTD1103F

RK73G1JTTD1103F

참조 용

부품 번호 RK73G1JTTD1103F
PNEDA 부품 번호 RK73G1JTTD1103F
설명 RES 110 KOHM 1% 1/10W 0603
제조업체 KOA Speer Electronics
단가 견적 요청
재고 있음 2,592
창고 Shipped from Hong Kong SAR
예상 배송 2월 25 - 3월 2 (신속 배송 선택)
Guarantee 최대 1 년 [PNEDA- 보증] *

RK73G1JTTD1103F 리소스

브랜드 KOA Speer Electronics
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호RK73G1JTTD1103F
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
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RK73G1JTTD1103F 사양

제조업체KOA Speer Electronics
시리즈RK73G
저항110 kOhms
공차±1%
전력 (와트)0.1W, 1/10W
구성Thick Film
특징Automotive AEC-Q200
온도 계수±50ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스0603 (1608 Metric)
공급자 장치 패키지0603
크기 / 치수0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)
높이-착석 (최대)0.022" (0.55mm)
종료 횟수2
실패율-

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제조업체

Samsung Electro-Mechanics

시리즈

RC

저항

2.87 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.25W, 1/4W

구성

Thick Film

특징

Moisture Resistant

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

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VPG Foil Resistors

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특징

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온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-65°C ~ 170°C

패키지 / 케이스

Nonstandard

공급자 장치 패키지

-

크기 / 치수

0.360" L x 0.370" W (9.14mm x 9.40mm)

높이-착석 (최대)

0.035" (0.89mm)

종료 횟수

4

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

RT

저항

562 kOhms

공차

±0.25%

전력 (와트)

0.25W, 1/4W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±15ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.122" L x 0.063" W (3.10mm x 1.60mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

RNCF1210DKE5K11

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제조업체

Stackpole Electronics

시리즈

RNCF

저항

5.11 kOhms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.333W, 1/3W

구성

Thin Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1210 (3225 Metric)

공급자 장치 패키지

1210

크기 / 치수

0.122" L x 0.094" W (3.10mm x 2.40mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

RT

저항

174 kOhms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.25W, 1/4W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.122" L x 0.063" W (3.10mm x 1.60mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

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