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RMCF2512FT86R6

RMCF2512FT86R6

참조 용

부품 번호 RMCF2512FT86R6
PNEDA 부품 번호 RMCF2512FT86R6
설명 RES 86.6 OHM 1% 1W 2512
제조업체 Stackpole Electronics
단가 견적 요청
재고 있음 4,122
창고 Shipped from Hong Kong SAR
예상 배송 12월 28 - 1월 2 (신속 배송 선택)
Guarantee 최대 1 년 [PNEDA- 보증] *

RMCF2512FT86R6 리소스

브랜드 Stackpole Electronics
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호RMCF2512FT86R6
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
RMCF2512FT86R6, RMCF2512FT86R6 데이터 시트 (총 페이지: 10, 크기: 358.66 KB)
PDFRMCF1210JT22M0 데이터 시트 표지
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RMCF2512FT86R6 사양

제조업체Stackpole Electronics
시리즈RMCF
저항86.6 Ohms
공차±1%
전력 (와트)1W
구성Thick Film
특징Automotive AEC-Q200
온도 계수±100ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스2512 (6432 Metric)
공급자 장치 패키지2512
크기 / 치수0.248" L x 0.126" W (6.30mm x 3.20mm)
높이-착석 (최대)0.028" (0.70mm)
종료 횟수2
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구성

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특징

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온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

2512 (6432 Metric)

공급자 장치 패키지

2512

크기 / 치수

0.248" L x 0.122" W (6.30mm x 3.10mm)

높이-착석 (최대)

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종료 횟수

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구성

Thick Film

특징

Moisture Resistant

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

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제조업체

Vishay Dale

시리즈

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저항

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공차

±1%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±200ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.033" W (1.60mm x 0.85mm)

높이-착석 (최대)

0.020" (0.50mm)

종료 횟수

2

실패율

-

ERA-2APB2432X

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제조업체

Panasonic Electronic Components

시리즈

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저항

24.3 kOhms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.063W, 1/16W

구성

Thin Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±15ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0402 (1005 Metric)

공급자 장치 패키지

0402

크기 / 치수

0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)

높이-착석 (최대)

0.016" (0.40mm)

종료 횟수

2

실패율

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Stackpole Electronics

제조업체

Stackpole Electronics

시리즈

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저항

48.7 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thick Film

특징

Anti-Sulfur

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

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