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RNCF1206BTC2K43

RNCF1206BTC2K43

참조 용

부품 번호 RNCF1206BTC2K43
PNEDA 부품 번호 RNCF1206BTC2K43
설명 RES 2.43K OHM 0.1% 1/3W 1206
제조업체 Stackpole Electronics
단가 견적 요청
재고 있음 5,292
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Guarantee 최대 1 년 [PNEDA- 보증] *

RNCF1206BTC2K43 리소스

브랜드 Stackpole Electronics
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호RNCF1206BTC2K43
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
RNCF1206BTC2K43, RNCF1206BTC2K43 데이터 시트 (총 페이지: 8, 크기: 403.16 KB)
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RNCF1206BTC2K43 사양

제조업체Stackpole Electronics
시리즈RNCF
저항2.43 kOhms
공차±0.1%
전력 (와트)0.333W, 1/3W
구성Thin Film
특징Automotive AEC-Q200
온도 계수±50ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스1206 (3216 Metric)
공급자 장치 패키지1206
크기 / 치수0.120" L x 0.061" W (3.05mm x 1.55mm)
높이-착석 (최대)0.026" (0.65mm)
종료 횟수2
실패율-

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제조업체

Panasonic Electronic Components

시리즈

ERJ

저항

221 Ohms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.75W, 3/4W

구성

Thick Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

2010 (5025 Metric)

공급자 장치 패키지

2010

크기 / 치수

0.197" L x 0.098" W (5.00mm x 2.50mm)

높이-착석 (최대)

0.028" (0.70mm)

종료 횟수

2

실패율

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시리즈

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저항

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공차

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전력 (와트)

0.5W, 1/2W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1210 (3225 Metric)

공급자 장치 패키지

1210

크기 / 치수

0.126" L x 0.098" W (3.20mm x 2.50mm)

높이-착석 (최대)

0.028" (0.70mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Susumu

시리즈

RG

저항

3.32 kOhms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.25W, 1/4W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±5ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm)

높이-착석 (최대)

0.020" (0.50mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Susumu

시리즈

RG

저항

2.2 kOhms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±5ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.020" (0.50mm)

종료 횟수

2

실패율

-

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제조업체

KOA Speer Electronics

시리즈

*

저항

-

공차

-

전력 (와트)

-

구성

-

특징

-

온도 계수

-

작동 온도

-

패키지 / 케이스

-

공급자 장치 패키지

-

크기 / 치수

-

높이-착석 (최대)

-

종료 횟수

-

실패율

-

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