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RNCF2010DTE732R

RNCF2010DTE732R

참조 용

부품 번호 RNCF2010DTE732R
PNEDA 부품 번호 RNCF2010DTE732R
설명 RES 732 OHM 0.5% 1/3W 2010
제조업체 Stackpole Electronics
단가 견적 요청
재고 있음 4,950
창고 Shipped from Hong Kong SAR
예상 배송 4월 5 - 4월 10 (신속 배송 선택)
Guarantee 최대 1 년 [PNEDA- 보증] *

RNCF2010DTE732R 리소스

브랜드 Stackpole Electronics
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호RNCF2010DTE732R
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
RNCF2010DTE732R, RNCF2010DTE732R 데이터 시트 (총 페이지: 8, 크기: 403.16 KB)
PDFRNCF0603FKE49K9 데이터 시트 표지
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RNCF2010DTE732R 사양

제조업체Stackpole Electronics
시리즈RNCF
저항732 Ohms
공차±0.5%
전력 (와트)0.333W, 1/3W
구성Thin Film
특징Automotive AEC-Q200
온도 계수±25ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스2010 (5025 Metric)
공급자 장치 패키지2010
크기 / 치수0.193" L x 0.094" W (4.90mm x 2.40mm)
높이-착석 (최대)0.026" (0.65mm)
종료 횟수2
실패율-

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KOA Speer Electronics

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TE Connectivity Passive Product

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저항

22.6 kOhms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.2W, 1/5W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±10ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

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Rohm Semiconductor

시리즈

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저항

8.2 Ohms

공차

±1%

전력 (와트)

1W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±250ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 125°C

패키지 / 케이스

2512 (6432 Metric)

공급자 장치 패키지

2512

크기 / 치수

0.248" L x 0.126" W (6.30mm x 3.20mm)

높이-착석 (최대)

0.028" (0.70mm)

종료 횟수

2

실패율

-

CRCW20106R20FKEF

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제조업체

Vishay Dale

시리즈

CRCW

저항

6.2 Ohms

공차

±1%

전력 (와트)

0.75W, 3/4W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

2010 (5025 Metric)

공급자 장치 패키지

2010

크기 / 치수

0.197" L x 0.098" W (5.00mm x 2.50mm)

높이-착석 (최대)

0.028" (0.70mm)

종료 횟수

2

실패율

-

RNCF0805DKE121R

Stackpole Electronics

제조업체

Stackpole Electronics

시리즈

RNCF

저항

121 Ohms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thin Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

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