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RR1220P-2740-B-M-T5

RR1220P-2740-B-M-T5

참조 용

부품 번호 RR1220P-2740-B-M-T5
PNEDA 부품 번호 RR1220P-2740-B-M-T5
설명 RES SMD 274 OHM 0.1% 1/10W 0805
제조업체 Susumu
단가 견적 요청
재고 있음 2,682
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RR1220P-2740-B-M-T5 리소스

브랜드 Susumu
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호RR1220P-2740-B-M-T5
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
RR1220P-2740-B-M-T5, RR1220P-2740-B-M-T5 데이터 시트 (총 페이지: 1, 크기: 136.25 KB)
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RR1220P-2740-B-M-T5 사양

제조업체Susumu
시리즈RR
저항274 Ohms
공차±0.1%
전력 (와트)0.1W, 1/10W
구성Thin Film
특징-
온도 계수±25ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 125°C
패키지 / 케이스0805 (2012 Metric)
공급자 장치 패키지-
크기 / 치수0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)
높이-착석 (최대)0.020" (0.50mm)
종료 횟수2
실패율-

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Vishay Thin Film

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공차

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전력 (와트)

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구성

Thin Film

특징

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온도 계수

±5ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 215°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.080" L x 0.050" W (2.03mm x 1.27mm)

높이-착석 (최대)

0.033" (0.84mm)

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2

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1.3 kOhms

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구성

Thick Film

특징

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온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

M55342H12B2E00RWS

Vishay Dale

제조업체

Vishay Dale

시리즈

Military, MIL-PRF-55342, RM0603

저항

2 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thin Film

특징

Military, Non-Inductive

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 150°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.064" L x 0.032" W (1.63mm x 0.81mm)

높이-착석 (최대)

0.033" (0.84mm)

종료 횟수

2

실패율

R (0.01%)

RNCF1206DTC3K57

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제조업체

Stackpole Electronics

시리즈

RNCF

저항

3.57 kOhms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.333W, 1/3W

구성

Thin Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.120" L x 0.061" W (3.05mm x 1.55mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

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제조업체

KOA Speer Electronics

시리즈

RK73H

저항

160 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.05W, 1/20W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±200ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0201 (0603 Metric)

공급자 장치 패키지

0201

크기 / 치수

0.024" L x 0.012" W (0.60mm x 0.30mm)

높이-착석 (최대)

0.010" (0.26mm)

종료 횟수

2

실패율

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