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RT0603CRD07270KL

RT0603CRD07270KL

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부품 번호 RT0603CRD07270KL
PNEDA 부품 번호 RT0603CRD07270KL
설명 RES SMD 270KOHM 0.25% 1/10W 0603
제조업체 Yageo
단가 견적 요청
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RT0603CRD07270KL 리소스

브랜드 Yageo
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호RT0603CRD07270KL
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장

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RT0603CRD07270KL 사양

제조업체Yageo
시리즈RT
저항270 kOhms
공차±0.25%
전력 (와트)0.1W, 1/10W
구성Thin Film
특징-
온도 계수±25ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스0603 (1608 Metric)
공급자 장치 패키지0603
크기 / 치수0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)
높이-착석 (최대)0.022" (0.55mm)
종료 횟수2
실패율-

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시리즈

HTHG

저항

200 Ohms

공차

±0.02%

전력 (와트)

0.02W

구성

Metal Foil

특징

Non-Inductive

온도 계수

±3ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 220°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.01mm x 1.24mm)

높이-착석 (최대)

0.023" (0.58mm)

종료 횟수

2

실패율

-

RNCF2512BTC11R5

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제조업체

Stackpole Electronics

시리즈

RNCF

저항

11.5 Ohms

공차

±0.1%

전력 (와트)

1W

구성

Thin Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

2512 (6432 Metric)

공급자 장치 패키지

2512

크기 / 치수

0.248" L x 0.122" W (6.30mm x 3.10mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

AA

저항

35.7 Ohms

공차

±1%

전력 (와트)

1W

구성

Thick Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200, Moisture Resistant

온도 계수

±150ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

Wide 1812 (4532 Metric), 1218

공급자 장치 패키지

1218

크기 / 치수

0.122" L x 0.181" W (3.10mm x 4.60mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

TNPW1206620KBETA

Vishay Dale

제조업체

Vishay Dale

시리즈

TNPW

저항

620 kOhms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.25W, 1/4W

구성

Thin Film

특징

Military

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 125°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

AC

저항

22.6 Ohms

공차

±1%

전력 (와트)

0.063W, 1/16W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200, Moisture Resistant

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0402 (1005 Metric)

공급자 장치 패키지

0402

크기 / 치수

0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)

높이-착석 (최대)

0.015" (0.37mm)

종료 횟수

2

실패율

-

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