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RT1206WRD071K58L

RT1206WRD071K58L

참조 용

부품 번호 RT1206WRD071K58L
PNEDA 부품 번호 RT1206WRD071K58L
설명 RES SMD 1.58KOHM 0.05% 1/4W 1206
제조업체 Yageo
단가 견적 요청
재고 있음 2,466
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RT1206WRD071K58L 리소스

브랜드 Yageo
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호RT1206WRD071K58L
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장

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RT1206WRD071K58L 사양

제조업체Yageo
시리즈RT
저항1.58 kOhms
공차±0.05%
전력 (와트)0.25W, 1/4W
구성Thin Film
특징-
온도 계수±25ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스1206 (3216 Metric)
공급자 장치 패키지1206
크기 / 치수0.122" L x 0.063" W (3.10mm x 1.60mm)
높이-착석 (최대)0.026" (0.65mm)
종료 횟수2
실패율-

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제조업체

Vishay Dale

시리즈

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저항

1.21 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.2W, 1/5W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200, Pulse Withstanding

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0402 (1005 Metric)

공급자 장치 패키지

0402

크기 / 치수

0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)

높이-착석 (최대)

0.016" (0.40mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

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시리즈

PRG

저항

2.37 kOhms

공차

±0.1%

전력 (와트)

1W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

Wide 1206 (3216 Metric), 0612

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.063" L x 0.126" W (1.60mm x 3.20mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

-

RNCF0805DTE1K10

Stackpole Electronics

제조업체

Stackpole Electronics

시리즈

RNCF

저항

1.1 kOhms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thin Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

RT

저항

243 Ohms

공차

±0.25%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

-

RCP2512W10R0JTP

Vishay Dale

제조업체

Vishay Dale

시리즈

RCP

저항

10 Ohms

공차

±5%

전력 (와트)

3.5W

구성

Thick Film

특징

Moisture Resistant

온도 계수

±150ppm/°C

작동 온도

-65°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

2512 (6432 Metric)

공급자 장치 패키지

2512

크기 / 치수

0.250" L x 0.124" W (6.35mm x 3.15mm)

높이-착석 (최대)

0.025" (0.64mm)

종료 횟수

2

실패율

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