SN74ABTH182646APM
참조 용
| 부품 번호 | SN74ABTH182646APM | ||||||||||||||||||
| PNEDA 부품 번호 | SN74ABTH182646APM | ||||||||||||||||||
| 설명 | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | ||||||||||||||||||
| 제조업체 | Texas Instruments | ||||||||||||||||||
| 단가 |
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| 재고 있음 | 224 | ||||||||||||||||||
| 창고 | Shipped from Hong Kong SAR | ||||||||||||||||||
| 예상 배송 | 12월 1 - 12월 6 (신속 배송 선택) | ||||||||||||||||||
| Guarantee | 최대 1 년 [PNEDA- 보증] * | ||||||||||||||||||
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SN74ABTH182646APM 리소스
| 브랜드 | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| Mfr. 부품 번호 | SN74ABTH182646APM |
| 분류 | 반도체 › 로직 IC › 논리-특수 논리 |
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SN74ABTH182646APM 사양
| 제조업체 | |
| 시리즈 | 74ABTH |
| 논리 유형 | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
| 공급 전압 | 4.5V ~ 5.5V |
| 비트 수 | 18 |
| 작동 온도 | -40°C ~ 85°C |
| 장착 유형 | Surface Mount |
| 패키지 / 케이스 | 64-LQFP |
| 공급자 장치 패키지 | 64-LQFP (10x10) |
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