SN74ABTH18652APM
참조 용
| 부품 번호 | SN74ABTH18652APM |
| PNEDA 부품 번호 | SN74ABTH18652APM |
| 설명 | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP |
| 제조업체 | Texas Instruments |
| 단가 | 견적 요청 |
| 재고 있음 | 8,232 |
| 창고 | Shipped from Hong Kong SAR |
| 예상 배송 | 12월 28 - 1월 2 (신속 배송 선택) |
| Guarantee | 최대 1 년 [PNEDA- 보증] * |
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SN74ABTH18652APM 리소스
| 브랜드 | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| Mfr. 부품 번호 | SN74ABTH18652APM |
| 분류 | 반도체 › 로직 IC › 논리-특수 논리 |
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SN74ABTH18652APM 사양
| 제조업체 | |
| 시리즈 | 74ABTH |
| 논리 유형 | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
| 공급 전압 | 4.5V ~ 5.5V |
| 비트 수 | 18 |
| 작동 온도 | -40°C ~ 85°C |
| 장착 유형 | Surface Mount |
| 패키지 / 케이스 | 64-LQFP |
| 공급자 장치 패키지 | 64-LQFP (10x10) |
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제조업체 Diodes Incorporated 시리즈 - 논리 유형 - 공급 전압 - 비트 수 - 작동 온도 - 장착 유형 - 패키지 / 케이스 - 공급자 장치 패키지 - |
