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SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT

참조 용

부품 번호 SN74BCT8373ANT
PNEDA 부품 번호 SN74BCT8373ANT
설명 IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
제조업체 Texas Instruments
단가 견적 요청
재고 있음 6,696
창고 Shipped from Hong Kong SAR
예상 배송 11월 29 - 12월 4 (신속 배송 선택)
Guarantee 최대 1 년 [PNEDA- 보증] *

SN74BCT8373ANT 리소스

브랜드 Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호SN74BCT8373ANT
분류반도체로직 IC논리-특수 논리

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  • SN74BCT8373ANT Distributor

SN74BCT8373ANT 사양

제조업체
시리즈74BCT
논리 유형Scan Test Device with D-Type Latches
공급 전압4.5V ~ 5.5V
비트 수8
작동 온도0°C ~ 70°C
장착 유형Through Hole
패키지 / 케이스24-DIP (0.300", 7.62mm)
공급자 장치 패키지24-PDIP

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ON Semiconductor

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4

작동 온도

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장착 유형

Through Hole

패키지 / 케이스

24-DIP (0.300", 7.62mm)

공급자 장치 패키지

24-PDIP

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제조업체

Nexperia USA Inc.

시리즈

-

논리 유형

Translating Transceiver

공급 전압

1.65V ~ 5.5V

비트 수

4

작동 온도

-40°C ~ 125°C

장착 유형

Surface Mount

패키지 / 케이스

14-VFQFN Exposed Pad

공급자 장치 패키지

14-DHVQFN (2.5x3)

NB100LVEP17DTG

ON Semiconductor

제조업체

ON Semiconductor

시리즈

100LVEP

논리 유형

Differential Receiver/Driver

공급 전압

2.375V ~ 3.8V

비트 수

4

작동 온도

-40°C ~ 85°C

장착 유형

Surface Mount

패키지 / 케이스

20-TSSOP (0.173", 4.40mm Width)

공급자 장치 패키지

20-TSSOP

PT7C5131C-5GWF

Diodes Incorporated

제조업체

Diodes Incorporated

시리즈

-

논리 유형

-

공급 전압

-

비트 수

-

작동 온도

-

장착 유형

-

패키지 / 케이스

-

공급자 장치 패키지

-

제조업체

NXP USA Inc.

시리즈

-

논리 유형

Translating Transceiver

공급 전압

0.95V ~ 3.6V, 1.65V ~ 5.5V

비트 수

4

작동 온도

-40°C ~ 125°C (TA)

장착 유형

Surface Mount

패키지 / 케이스

12-UFBGA, WLCSP

공급자 장치 패키지

12-WLCSP (1.42x1.97)

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