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TLR3A20WR015FTDG

TLR3A20WR015FTDG

참조 용

부품 번호 TLR3A20WR015FTDG
PNEDA 부품 번호 TLR3A20WR015FTDG
설명 RES 0.015 OHM 1% 2W 2512
제조업체 TE Connectivity Passive Product
단가 견적 요청
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창고 Shipped from Hong Kong SAR
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Guarantee 최대 1 년 [PNEDA- 보증] *

TLR3A20WR015FTDG 리소스

브랜드 TE Connectivity Passive Product
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호TLR3A20WR015FTDG
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장

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TLR3A20WR015FTDG 사양

제조업체TE Connectivity Passive Product
시리즈TLR, CGS
저항15 mOhms
공차±1%
전력 (와트)2W
구성Metal Foil
특징Current Sense
온도 계수±75ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 170°C
패키지 / 케이스2512 (6432 Metric)
공급자 장치 패키지2512
크기 / 치수0.252" L x 0.126" W (6.40mm x 3.20mm)
높이-착석 (최대)0.024" (0.60mm)
종료 횟수2
실패율-

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제조업체

Yageo

시리즈

RT

저항

39.2 Ohms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.024" (0.60mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

AA

저항

16.5 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thick Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200, Moisture Resistant

온도 계수

±150ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.024" (0.60mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

MMP

저항

1.69 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

1W

구성

Metal Film

특징

-

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

MELF, 0207

공급자 장치 패키지

MELF

크기 / 치수

0.087" Dia x 0.232" L (2.20mm x 5.90mm)

높이-착석 (최대)

-

종료 횟수

2

실패율

-

RNCF2512DKE12K0

Stackpole Electronics

제조업체

Stackpole Electronics

시리즈

RNCF

저항

12 kOhms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.5W, 1/2W

구성

Thin Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

2512 (6432 Metric)

공급자 장치 패키지

2512

크기 / 치수

0.248" L x 0.122" W (6.30mm x 3.10mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

RN73H1ETTP3091F25

KOA Speer Electronics

제조업체

KOA Speer Electronics

시리즈

*

저항

-

공차

-

전력 (와트)

-

구성

-

특징

-

온도 계수

-

작동 온도

-

패키지 / 케이스

-

공급자 장치 패키지

-

크기 / 치수

-

높이-착석 (최대)

-

종료 횟수

-

실패율

-

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