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WSL2512R0150DEA

WSL2512R0150DEA

참조 용

부품 번호 WSL2512R0150DEA
PNEDA 부품 번호 WSL2512R0150DEA
설명 WSL-2512 .015 .5% EA E3
제조업체 Vishay Dale
단가 견적 요청
재고 있음 4,194
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WSL2512R0150DEA 리소스

브랜드 Vishay Dale
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호WSL2512R0150DEA
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장

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WSL2512R0150DEA 사양

제조업체Vishay Dale
시리즈WSL
저항15 mOhms
공차±0.5%
전력 (와트)1W
구성Metal Element
특징Automotive AEC-Q200, Current Sense, Moisture Resistant, Pulse Withstanding
온도 계수±75ppm/°C
작동 온도-65°C ~ 170°C
패키지 / 케이스2512 (6432 Metric)
공급자 장치 패키지2512
크기 / 치수0.250" L x 0.125" W (6.35mm x 3.18mm)
높이-착석 (최대)0.035" (0.89mm)
종료 횟수2
실패율-

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제조업체

Vishay Beyschlag

시리즈

MCW AT - Precision

저항

590 Ohms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.25W, 1/4W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200, Moisture Resistant

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

Wide 0604 (1610 Metric), 0406

공급자 장치 패키지

0406

크기 / 치수

0.039" L x 0.063" W (1.00mm x 1.60mm)

높이-착석 (최대)

0.014" (0.35mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

RT

저항

787 Ohms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.05W, 1/20W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 125°C

패키지 / 케이스

0201 (0603 Metric)

공급자 장치 패키지

0201

크기 / 치수

0.024" L x 0.012" W (0.60mm x 0.30mm)

높이-착석 (최대)

0.010" (0.26mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

RT

저항

560 kOhms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

RT

저항

62 kOhms

공차

±0.25%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.024" (0.60mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

RT

저항

430 Ohms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.024" (0.60mm)

종료 횟수

2

실패율

-

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