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Y14963K32000T0W

Y14963K32000T0W

참조 용

부품 번호 Y14963K32000T0W
PNEDA 부품 번호 Y14963K32000T0W
설명 RES SMD 3.32K OHM 0.15W 1206
제조업체 VPG Foil Resistors
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Y14963K32000T0W 리소스

브랜드 VPG Foil Resistors
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호Y14963K32000T0W
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
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Y14963K32000T0W 사양

제조업체VPG Foil Resistors
시리즈VSM
저항3.32 kOhms
공차±0.01%
전력 (와트)0.15W
구성Metal Foil
특징Moisture Resistant, Non-Inductive
온도 계수±2ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 150°C
패키지 / 케이스1206 (3216 Metric)
공급자 장치 패키지1206
크기 / 치수0.126" L x 0.062" W (3.20mm x 1.57mm)
높이-착석 (최대)0.025" (0.64mm)
종료 횟수2
실패율-

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Vishay Dale

제조업체

Vishay Dale

시리즈

CRCW-C

저항

232 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thick Film

특징

-

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Susumu

시리즈

RG

저항

115 Ohms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±5ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.020" (0.50mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

MMF

저항

48.7 Ohms

공차

±1%

전력 (와트)

0.6W

구성

Metal Film

특징

-

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

MELF, 0207

공급자 장치 패키지

MELF

크기 / 치수

0.087" Dia x 0.232" L (2.20mm x 5.90mm)

높이-착석 (최대)

-

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Susumu

시리즈

PRG

저항

41.2 kOhms

공차

±0.1%

전력 (와트)

1W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

Wide 1206 (3216 Metric), 0612

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.063" L x 0.126" W (1.60mm x 3.20mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

-

ESR18EZPF1961

Rohm Semiconductor

제조업체

Rohm Semiconductor

시리즈

ESR

저항

1.96 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.5W, 1/2W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200, Pulse Withstanding

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

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