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Y174670K0000B9R

Y174670K0000B9R

참조 용

부품 번호 Y174670K0000B9R
PNEDA 부품 번호 Y174670K0000B9R
설명 SMR3DZ 70K000 TCR0.2 0.1% S T
제조업체 VPG Foil Resistors
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Y174670K0000B9R 리소스

브랜드 VPG Foil Resistors
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호Y174670K0000B9R
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
Y174670K0000B9R, Y174670K0000B9R 데이터 시트 (총 페이지: 5, 크기: 352.94 KB)
PDFY174690R0000A5R 데이터 시트 표지
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Y174670K0000B9R 사양

제조업체VPG Foil Resistors
시리즈SMR1DZ
저항70 kOhms
공차±0.1%
전력 (와트)0.4W, 2/5W
구성Metal Foil
특징Non-Inductive
온도 계수±0.2ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 175°C
패키지 / 케이스3017 J-Lead
공급자 장치 패키지-
크기 / 치수0.287" L x 0.170" W (7.29mm x 4.32mm)
높이-착석 (최대)0.122" (3.10mm)
종료 횟수2
실패율-

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RT

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공차

±1%

전력 (와트)

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구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.122" L x 0.063" W (3.10mm x 1.60mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

RNCF1210DTE976R

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제조업체

Stackpole Electronics

시리즈

RNCF

저항

976 Ohms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.333W, 1/3W

구성

Thin Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1210 (3225 Metric)

공급자 장치 패키지

1210

크기 / 치수

0.122" L x 0.094" W (3.10mm x 2.40mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

RN73H1ETTP2742F25

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제조업체

KOA Speer Electronics

시리즈

*

저항

-

공차

-

전력 (와트)

-

구성

-

특징

-

온도 계수

-

작동 온도

-

패키지 / 케이스

-

공급자 장치 패키지

-

크기 / 치수

-

높이-착석 (최대)

-

종료 횟수

-

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

PE

저항

10 mOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.5W, 1/2W

구성

Metal Foil

특징

Automotive AEC-Q200, Current Sense, Moisture Resistant

온도 계수

±75ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 170°C

패키지 / 케이스

2010 (5025 Metric)

공급자 장치 패키지

2010

크기 / 치수

0.200" L x 0.100" W (5.08mm x 2.54mm)

높이-착석 (최대)

0.035" (0.89mm)

종료 횟수

2

실패율

-

RNCF2512DTC1M80

Stackpole Electronics

제조업체

Stackpole Electronics

시리즈

RNCF

저항

1.8 MOhms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.5W, 1/2W

구성

Thin Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

2512 (6432 Metric)

공급자 장치 패키지

2512

크기 / 치수

0.248" L x 0.122" W (6.30mm x 3.10mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

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