TDC825K025NSF 데이터 시트
Cornell Dubilier Electronics (CDE) 제조업체 Cornell Dubilier Electronics (CDE) 시리즈 TDC 커패시턴스 8.2µF 공차 ±10% 전압-정격 25V 유형 Conformal Coated ESR (등가 직렬 저항) - 작동 온도 -55°C ~ 125°C 수명 @ Temp. - 장착 유형 Through Hole 패키지 / 케이스 Radial 크기 / 치수 0.250" Dia (6.35mm) 높이-착석 (최대) 0.500" (12.70mm) 리드 간격 0.125" (3.18mm) 제조업체 크기 코드 F 평점 - 특징 General Purpose 실패율 - |
Cornell Dubilier Electronics (CDE) 제조업체 Cornell Dubilier Electronics (CDE) 시리즈 TDC 커패시턴스 8.2µF 공차 ±10% 전압-정격 20V 유형 Conformal Coated ESR (등가 직렬 저항) - 작동 온도 -55°C ~ 125°C 수명 @ Temp. - 장착 유형 Through Hole 패키지 / 케이스 Radial 크기 / 치수 0.250" Dia (6.35mm) 높이-착석 (최대) 0.500" (12.70mm) 리드 간격 0.125" (3.18mm) 제조업체 크기 코드 F 평점 - 특징 General Purpose 실패율 - |
Cornell Dubilier Electronics (CDE) 제조업체 Cornell Dubilier Electronics (CDE) 시리즈 TDC 커패시턴스 68µF 공차 ±10% 전압-정격 25V 유형 Conformal Coated ESR (등가 직렬 저항) - 작동 온도 -55°C ~ 125°C 수명 @ Temp. - 장착 유형 Through Hole 패키지 / 케이스 Radial 크기 / 치수 0.350" Dia (8.89mm) 높이-착석 (최대) 0.650" (16.51mm) 리드 간격 0.250" (6.35mm) 제조업체 크기 코드 G 평점 - 특징 General Purpose 실패율 - |
Cornell Dubilier Electronics (CDE) 제조업체 Cornell Dubilier Electronics (CDE) 시리즈 TDC 커패시턴스 6.8µF 공차 ±20% 전압-정격 35V 유형 Conformal Coated ESR (등가 직렬 저항) - 작동 온도 -55°C ~ 125°C 수명 @ Temp. - 장착 유형 Through Hole 패키지 / 케이스 Radial 크기 / 치수 0.250" Dia (6.35mm) 높이-착석 (최대) 0.500" (12.70mm) 리드 간격 0.125" (3.18mm) 제조업체 크기 코드 F 평점 - 특징 General Purpose 실패율 - |
Cornell Dubilier Electronics (CDE) 제조업체 Cornell Dubilier Electronics (CDE) 시리즈 TDC 커패시턴스 6.8µF 공차 ±10% 전압-정격 25V 유형 Conformal Coated ESR (등가 직렬 저항) - 작동 온도 -55°C ~ 125°C 수명 @ Temp. - 장착 유형 Through Hole 패키지 / 케이스 Radial 크기 / 치수 0.250" Dia (6.35mm) 높이-착석 (최대) 0.500" (12.70mm) 리드 간격 0.125" (3.18mm) 제조업체 크기 코드 F 평점 - 특징 General Purpose 실패율 - |
Cornell Dubilier Electronics (CDE) 제조업체 Cornell Dubilier Electronics (CDE) 시리즈 TDC 커패시턴스 56µF 공차 ±10% 전압-정격 6V 유형 Conformal Coated ESR (등가 직렬 저항) - 작동 온도 -55°C ~ 125°C 수명 @ Temp. - 장착 유형 Through Hole 패키지 / 케이스 Radial 크기 / 치수 0.250" Dia (6.35mm) 높이-착석 (최대) 0.500" (12.70mm) 리드 간격 0.125" (3.18mm) 제조업체 크기 코드 F 평점 - 특징 General Purpose 실패율 - |
Cornell Dubilier Electronics (CDE) 제조업체 Cornell Dubilier Electronics (CDE) 시리즈 TDC 커패시턴스 5.6µF 공차 ±10% 전압-정격 35V 유형 Conformal Coated ESR (등가 직렬 저항) - 작동 온도 -55°C ~ 125°C 수명 @ Temp. - 장착 유형 Through Hole 패키지 / 케이스 Radial 크기 / 치수 0.250" Dia (6.35mm) 높이-착석 (최대) 0.500" (12.70mm) 리드 간격 0.125" (3.18mm) 제조업체 크기 코드 F 평점 - 특징 General Purpose 실패율 - |
Cornell Dubilier Electronics (CDE) 제조업체 Cornell Dubilier Electronics (CDE) 시리즈 TDC 커패시턴스 5.6µF 공차 ±10% 전압-정격 25V 유형 Conformal Coated ESR (등가 직렬 저항) - 작동 온도 -55°C ~ 125°C 수명 @ Temp. - 장착 유형 Through Hole 패키지 / 케이스 Radial 크기 / 치수 0.250" Dia (6.35mm) 높이-착석 (최대) 0.500" (12.70mm) 리드 간격 0.125" (3.18mm) 제조업체 크기 코드 F 평점 - 특징 General Purpose 실패율 - |
Cornell Dubilier Electronics (CDE) 제조업체 Cornell Dubilier Electronics (CDE) 시리즈 TDC 커패시턴스 47µF 공차 ±20% 전압-정격 35V 유형 Conformal Coated ESR (등가 직렬 저항) - 작동 온도 -55°C ~ 125°C 수명 @ Temp. - 장착 유형 Through Hole 패키지 / 케이스 Radial 크기 / 치수 0.350" Dia (8.89mm) 높이-착석 (최대) 0.650" (16.51mm) 리드 간격 0.250" (6.35mm) 제조업체 크기 코드 G 평점 - 특징 General Purpose 실패율 - |
Cornell Dubilier Electronics (CDE) 제조업체 Cornell Dubilier Electronics (CDE) 시리즈 TDC 커패시턴스 47µF 공차 ±20% 전압-정격 25V 유형 Conformal Coated ESR (등가 직렬 저항) - 작동 온도 -55°C ~ 125°C 수명 @ Temp. - 장착 유형 Through Hole 패키지 / 케이스 Radial 크기 / 치수 0.350" Dia (8.89mm) 높이-착석 (최대) 0.650" (16.51mm) 리드 간격 0.250" (6.35mm) 제조업체 크기 코드 G 평점 - 특징 General Purpose 실패율 - |
Cornell Dubilier Electronics (CDE) 제조업체 Cornell Dubilier Electronics (CDE) 시리즈 TDC 커패시턴스 47µF 공차 ±20% 전압-정격 20V 유형 Conformal Coated ESR (등가 직렬 저항) - 작동 온도 -55°C ~ 125°C 수명 @ Temp. - 장착 유형 Through Hole 패키지 / 케이스 Radial 크기 / 치수 0.350" Dia (8.89mm) 높이-착석 (최대) 0.650" (16.51mm) 리드 간격 0.250" (6.35mm) 제조업체 크기 코드 G 평점 - 특징 General Purpose 실패율 - |
Cornell Dubilier Electronics (CDE) 제조업체 Cornell Dubilier Electronics (CDE) 시리즈 TDC 커패시턴스 47µF 공차 ±10% 전압-정격 10V 유형 Conformal Coated ESR (등가 직렬 저항) - 작동 온도 -55°C ~ 125°C 수명 @ Temp. - 장착 유형 Through Hole 패키지 / 케이스 Radial 크기 / 치수 0.250" Dia (6.35mm) 높이-착석 (최대) 0.500" (12.70mm) 리드 간격 0.125" (3.18mm) 제조업체 크기 코드 F 평점 - 특징 General Purpose 실패율 - |