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AT0402DRD071K43L

AT0402DRD071K43L

참조 용

부품 번호 AT0402DRD071K43L
PNEDA 부품 번호 AT0402DRD071K43L
설명 RES SMD 1.43KOHM 0.5% 1/16W 0402
제조업체 Yageo
단가 견적 요청
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AT0402DRD071K43L 리소스

브랜드 Yageo
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호AT0402DRD071K43L
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장

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  • AT0402DRD071K43L Distributor

AT0402DRD071K43L 사양

제조업체Yageo
시리즈AT
저항1.43 kOhms
공차±0.5%
전력 (와트)0.063W, 1/16W
구성Thin Film
특징Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200, Moisture Resistant
온도 계수±25ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스0402 (1005 Metric)
공급자 장치 패키지0402
크기 / 치수0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)
높이-착석 (최대)0.014" (0.35mm)
종료 횟수2
실패율-

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시리즈

RT

저항

8.25 kOhms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.063W, 1/16W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0402 (1005 Metric)

공급자 장치 패키지

0402

크기 / 치수

0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)

높이-착석 (최대)

0.014" (0.35mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

RT

저항

90.9 Ohms

공차

±0.25%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.024" (0.60mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Susumu

시리즈

RG

저항

1.87 kOhms

공차

±0.02%

전력 (와트)

0.25W, 1/4W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±10ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm)

높이-착석 (최대)

0.020" (0.50mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

RT

저항

40.2 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.05W, 1/20W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 125°C

패키지 / 케이스

0201 (0603 Metric)

공급자 장치 패키지

0201

크기 / 치수

0.024" L x 0.012" W (0.60mm x 0.30mm)

높이-착석 (최대)

0.010" (0.26mm)

종료 횟수

2

실패율

-

CRCW08051M00FKTB

Vishay Dale

제조업체

Vishay Dale

시리즈

CRCW

저항

1 MOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.020" (0.50mm)

종료 횟수

2

실패율

-

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