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M55342E06B16B2RWI

M55342E06B16B2RWI

참조 용

부품 번호 M55342E06B16B2RWI
PNEDA 부품 번호 M55342E06B16B2RWI
설명 RES SMD 16.2KOHM 0.1% 0.15W 0805
제조업체 Vishay Dale
단가 견적 요청
재고 있음 5,022
창고 Shipped from Hong Kong SAR
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Guarantee 최대 1 년 [PNEDA- 보증] *

M55342E06B16B2RWI 리소스

브랜드 Vishay Dale
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호M55342E06B16B2RWI
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
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M55342E06B16B2RWI 사양

제조업체Vishay Dale
시리즈Military, MIL-PRF-55342, RM0705
저항16.2 kOhms
공차±0.1%
전력 (와트)0.15W
구성Thin Film
특징Military, Non-Inductive
온도 계수±25ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 150°C
패키지 / 케이스0805 (2012 Metric)
공급자 장치 패키지0705
크기 / 치수0.080" L x 0.050" W (2.03mm x 1.27mm)
높이-착석 (최대)0.033" (0.84mm)
종료 횟수2
실패율R (0.01%)

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공차

±0.1%

전력 (와트)

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구성

Thin Film

특징

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온도 계수

±15ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.061" L x 0.031" W (1.55mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

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구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200, Pulse Withstanding

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

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제조업체

Panasonic Electronic Components

시리즈

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저항

255 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.05W, 1/20W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±200ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 125°C

패키지 / 케이스

0201 (0603 Metric)

공급자 장치 패키지

0201

크기 / 치수

0.024" L x 0.012" W (0.60mm x 0.30mm)

높이-착석 (최대)

0.010" (0.26mm)

종료 횟수

2

실패율

-

3521620RFT

TE Connectivity Passive Product

제조업체

TE Connectivity Passive Product

시리즈

3521, CGS

저항

620 Ohms

공차

±1%

전력 (와트)

2W

구성

Thick Film

특징

-

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

2512 (6432 Metric)

공급자 장치 패키지

-

크기 / 치수

0.248" L x 0.126" W (6.30mm x 3.20mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

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시리즈

SR

저항

43 kOhms

공차

±5%

전력 (와트)

0.25W, 1/4W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200, Pulse Withstanding

온도 계수

±200ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.122" L x 0.063" W (3.10mm x 1.60mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

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실패율

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