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MMP200FRE29K4

MMP200FRE29K4

참조 용

부품 번호 MMP200FRE29K4
PNEDA 부품 번호 MMP200FRE29K4
설명 RES SMD 1% 2W MELF
제조업체 Yageo
단가 견적 요청
재고 있음 6,012
창고 Shipped from Hong Kong SAR
예상 배송 10월 10 - 10월 15 (신속 배송 선택)
Guarantee 최대 1 년 [PNEDA- 보증] *

MMP200FRE29K4 리소스

브랜드 Yageo
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호MMP200FRE29K4
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장

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MMP200FRE29K4 사양

제조업체Yageo
시리즈MMP
저항29.4 kOhms
공차±1%
전력 (와트)2W
구성Metal Film
특징-
온도 계수±50ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스MELF, 0309
공급자 장치 패키지MELF
크기 / 치수0.126" Dia x 0.335" L (3.20mm x 8.50mm)
높이-착석 (최대)-
종료 횟수2
실패율-

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제조업체

KOA Speer Electronics

시리즈

RK73G

저항

18 kOhms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

-

MCR03ERTF8062

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제조업체

Rohm Semiconductor

시리즈

MCR

저항

80.6 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thick Film

특징

-

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

-

CPF0402B187RE

TE Connectivity Passive Product

제조업체

TE Connectivity Passive Product

시리즈

*

저항

-

공차

-

전력 (와트)

-

구성

-

특징

-

온도 계수

-

작동 온도

-

패키지 / 케이스

-

공급자 장치 패키지

-

크기 / 치수

-

높이-착석 (최대)

-

종료 횟수

-

실패율

-

제조업체

Susumu

시리즈

RG

저항

590 Ohms

공차

±0.05%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±10ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.020" (0.50mm)

종료 횟수

2

실패율

-

MMA02040D4991FA300

Vishay Beyschlag

제조업체

Vishay Beyschlag

시리즈

MMA - Professional

저항

4.99 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.4W, 2/5W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

MELF, 0204

공급자 장치 패키지

0204

크기 / 치수

0.055" Dia x 0.142" L (1.40mm x 3.60mm)

높이-착석 (최대)

-

종료 횟수

2

실패율

-

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