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RCL12186K81FKEK

RCL12186K81FKEK

참조 용

부품 번호 RCL12186K81FKEK
PNEDA 부품 번호 RCL12186K81FKEK
설명 RES SMD 6.81K OHM 1W 1812 WIDE
제조업체 Vishay Dale
단가 견적 요청
재고 있음 7,974
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RCL12186K81FKEK 리소스

브랜드 Vishay Dale
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호RCL12186K81FKEK
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
RCL12186K81FKEK, RCL12186K81FKEK 데이터 시트 (총 페이지: 9, 크기: 135.17 KB)
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RCL12186K81FKEK 사양

제조업체Vishay Dale
시리즈RCL
저항6.81 kOhms
공차±1%
전력 (와트)1W
구성Thick Film
특징Automotive AEC-Q200
온도 계수±100ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스Wide 1812 (4532 Metric), 1218
공급자 장치 패키지1218
크기 / 치수0.126" L x 0.181" W (3.20mm x 4.60mm)
높이-착석 (최대)0.024" (0.60mm)
종료 횟수2
실패율-

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저항

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±1%

전력 (와트)

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구성

Thick Film

특징

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온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

-

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시리즈

RG

저항

3.9 kOhms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±10ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.020" (0.50mm)

종료 횟수

2

실패율

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제조업체

Panasonic Electronic Components

시리즈

ERJ

저항

787 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thick Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

-

ERJ-U1DD3241U

Panasonic Electronic Components

제조업체

Panasonic Electronic Components

시리즈

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저항

3.24 kOhms

공차

±0.5%

전력 (와트)

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구성

Thick Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

2010 (5025 Metric)

공급자 장치 패키지

2010

크기 / 치수

0.197" L x 0.098" W (5.00mm x 2.50mm)

높이-착석 (최대)

0.028" (0.70mm)

종료 횟수

2

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공차

±0.1%

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0.167W, 1/6W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.061" L x 0.031" W (1.55mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

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