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RG1005P-1432-B-T5

RG1005P-1432-B-T5

참조 용

부품 번호 RG1005P-1432-B-T5
PNEDA 부품 번호 RG1005P-1432-B-T5
설명 RES SMD 14.3KOHM 0.1% 1/16W 0402
제조업체 Susumu
단가 견적 요청
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RG1005P-1432-B-T5 리소스

브랜드 Susumu
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호RG1005P-1432-B-T5
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
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RG1005P-1432-B-T5 사양

제조업체Susumu
시리즈RG
저항14.3 kOhms
공차±0.1%
전력 (와트)0.063W, 1/16W
구성Thin Film
특징Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200
온도 계수±25ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스0402 (1005 Metric)
공급자 장치 패키지0402
크기 / 치수0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)
높이-착석 (최대)0.016" (0.40mm)
종료 횟수2
실패율-

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시리즈

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구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200, Moisture Resistant

온도 계수

-

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.024" (0.60mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Susumu

시리즈

RG

저항

3.09 kOhms

공차

±0.05%

전력 (와트)

0.063W, 1/16W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0402 (1005 Metric)

공급자 장치 패키지

0402

크기 / 치수

0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)

높이-착석 (최대)

0.016" (0.40mm)

종료 횟수

2

실패율

-

WSLP0805R0300DEK

Vishay Dale

제조업체

Vishay Dale

시리즈

WSLP

저항

30 mOhms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.5W, 1/2W

구성

Metal Element

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200, Current Sense, Moisture Resistant, Pulse Withstanding

온도 계수

±75ppm/°C

작동 온도

-65°C ~ 170°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.080" L x 0.050" W (2.03mm x 1.27mm)

높이-착석 (최대)

0.023" (0.58mm)

종료 횟수

2

실패율

-

TNPW2512523KBEEY

Vishay Dale

제조업체

Vishay Dale

시리즈

TNPW e3

저항

523 kOhms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.5W, 1/2W

구성

Thin Film

특징

Moisture Resistant

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

2512 (6432 Metric)

공급자 장치 패키지

2512

크기 / 치수

0.248" L x 0.122" W (6.30mm x 3.10mm)

높이-착석 (최대)

0.030" (0.75mm)

종료 횟수

2

실패율

-

RN73H1ETTP6191D25

KOA Speer Electronics

제조업체

KOA Speer Electronics

시리즈

*

저항

-

공차

-

전력 (와트)

-

구성

-

특징

-

온도 계수

-

작동 온도

-

패키지 / 케이스

-

공급자 장치 패키지

-

크기 / 치수

-

높이-착석 (최대)

-

종료 횟수

-

실패율

-

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