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RG1608P-364-D-T5

RG1608P-364-D-T5

참조 용

부품 번호 RG1608P-364-D-T5
PNEDA 부품 번호 RG1608P-364-D-T5
설명 RES SMD 360K OHM 0.5% 1/10W 0603
제조업체 Susumu
단가 견적 요청
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RG1608P-364-D-T5 리소스

브랜드 Susumu
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호RG1608P-364-D-T5
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
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RG1608P-364-D-T5 사양

제조업체Susumu
시리즈RG
저항360 kOhms
공차±0.5%
전력 (와트)0.1W, 1/10W
구성Thin Film
특징Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200
온도 계수±25ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스0603 (1608 Metric)
공급자 장치 패키지0603
크기 / 치수0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)
높이-착석 (최대)0.020" (0.50mm)
종료 횟수2
실패율-

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공차

±0.1%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thin Film

특징

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온도 계수

±15ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

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시리즈

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저항

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공차

±0.5%

전력 (와트)

0.25W, 1/4W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200, Moisture Resistant

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.122" L x 0.063" W (3.10mm x 1.60mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

TNPW120649R9BETA

Vishay Dale

제조업체

Vishay Dale

시리즈

TNPW

저항

49.9 Ohms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.25W, 1/4W

구성

Thin Film

특징

Military

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 125°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Susumu

시리즈

RG

저항

330 Ohms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.25W, 1/4W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±5ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm)

높이-착석 (최대)

0.020" (0.50mm)

종료 횟수

2

실패율

-

SM6227FT619R

Stackpole Electronics

제조업체

Stackpole Electronics

시리즈

SM

저항

619 Ohms

공차

±1%

전력 (와트)

3W

구성

Wirewound

특징

Moisture Resistant, Pulse Withstanding

온도 계수

±20ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 275°C

패키지 / 케이스

6227 J-Lead

공급자 장치 패키지

6227

크기 / 치수

0.646" L x 0.276" W (16.40mm x 7.00mm)

높이-착석 (최대)

0.265" (6.73mm)

종료 횟수

2

실패율

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