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RG1608V-3011-C-T5

RG1608V-3011-C-T5

참조 용

부품 번호 RG1608V-3011-C-T5
PNEDA 부품 번호 RG1608V-3011-C-T5
설명 RES SMD 3.01K OHM 1/10W 0603
제조업체 Susumu
단가 견적 요청
재고 있음 7,002
창고 Shipped from Hong Kong SAR
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RG1608V-3011-C-T5 리소스

브랜드 Susumu
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호RG1608V-3011-C-T5
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
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RG1608V-3011-C-T5 사양

제조업체Susumu
시리즈RG
저항3.01 kOhms
공차±0.25%
전력 (와트)0.1W, 1/10W
구성Thin Film
특징Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200
온도 계수±5ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스0603 (1608 Metric)
공급자 장치 패키지0603
크기 / 치수0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)
높이-착석 (최대)0.020" (0.50mm)
종료 횟수2
실패율-

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저항

137 Ohms

공차

±1%

전력 (와트)

0.25W, 1/4W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200, Pulse Withstanding

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 125°C

패키지 / 케이스

MELF, 0204

공급자 장치 패키지

Mini MELF

크기 / 치수

0.055" Dia x 0.142" L (1.40mm x 3.60mm)

높이-착석 (최대)

-

종료 횟수

2

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제조업체

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시리즈

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저항

2.4 kOhms

공차

±5%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thick Film

특징

Moisture Resistant

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.024" (0.60mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Susumu

시리즈

RG

저항

32.4 kOhms

공차

±0.05%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.020" (0.50mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

RT

저항

1.1 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.25W, 1/4W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.122" L x 0.063" W (3.10mm x 1.60mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

TNPW06036K98DHTA

Vishay Dale

제조업체

Vishay Dale

시리즈

TNPW

저항

6.98 kOhms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thin Film

특징

Military

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 125°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.061" L x 0.033" W (1.55mm x 0.85mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

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