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RGC0402DTC360K

RGC0402DTC360K

참조 용

부품 번호 RGC0402DTC360K
PNEDA 부품 번호 RGC0402DTC360K
설명 RES 360K OHM 0.5% 1/16W 0402
제조업체 Stackpole Electronics
단가 견적 요청
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RGC0402DTC360K 리소스

브랜드 Stackpole Electronics
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호RGC0402DTC360K
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
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RGC0402DTC360K 사양

제조업체Stackpole Electronics
시리즈RGC
저항360 kOhms
공차±0.5%
전력 (와트)0.063W, 1/16W
구성Thick Film
특징Automotive AEC-Q200
온도 계수±50ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스0402 (1005 Metric)
공급자 장치 패키지0402
크기 / 치수0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)
높이-착석 (최대)0.016" (0.40mm)
종료 횟수2
실패율-

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Stackpole Electronics

제조업체

Stackpole Electronics

시리즈

RNCF

저항

2.05 MOhms

공차

±0.5%

전력 (와트)

0.25W, 1/4W

구성

Thin Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

2010 (5025 Metric)

공급자 장치 패키지

2010

크기 / 치수

0.193" L x 0.094" W (4.90mm x 2.40mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

PE

저항

10 mOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Metal Foil

특징

Automotive AEC-Q200, Current Sense, Moisture Resistant

온도 계수

±75ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 170°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.080" L x 0.050" W (2.03mm x 1.27mm)

높이-착석 (최대)

0.024" (0.60mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

RT

저항

787 Ohms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.024" (0.60mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

RT

저항

4.75 kOhms

공차

±0.25%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

RT

저항

232 Ohms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.25W, 1/4W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.122" L x 0.063" W (3.10mm x 1.60mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

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