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RMCS0402FT25K5

RMCS0402FT25K5

참조 용

부품 번호 RMCS0402FT25K5
PNEDA 부품 번호 RMCS0402FT25K5
설명 RES 25.5K OHM 1% 1/16W 0402
제조업체 Stackpole Electronics
단가 견적 요청
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RMCS0402FT25K5 리소스

브랜드 Stackpole Electronics
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호RMCS0402FT25K5
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
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RMCS0402FT25K5 사양

제조업체Stackpole Electronics
시리즈RMCS
저항25.5 kOhms
공차±1%
전력 (와트)0.063W, 1/16W
구성Thick Film
특징Anti-Sulfur
온도 계수±100ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스0402 (1005 Metric)
공급자 장치 패키지0402
크기 / 치수0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)
높이-착석 (최대)0.016" (0.40mm)
종료 횟수2
실패율-

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제조업체

Susumu

시리즈

RG

저항

133 Ohms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±5ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.020" (0.50mm)

종료 횟수

2

실패율

-

RN73H1ETTP1041B50

KOA Speer Electronics

제조업체

KOA Speer Electronics

시리즈

*

저항

-

공차

-

전력 (와트)

-

구성

-

특징

-

온도 계수

-

작동 온도

-

패키지 / 케이스

-

공급자 장치 패키지

-

크기 / 치수

-

높이-착석 (최대)

-

종료 횟수

-

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

AF

저항

43 Ohms

공차

±5%

전력 (와트)

0.063W, 1/16W

구성

Thick Film

특징

Anti-Sulfur, Moisture Resistant

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0402 (1005 Metric)

공급자 장치 패키지

0402

크기 / 치수

0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)

높이-착석 (최대)

0.015" (0.37mm)

종료 횟수

2

실패율

-

CRCW06031K37FKEAHP

Vishay Dale

제조업체

Vishay Dale

시리즈

CRCW-HP

저항

1.37 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.25W, 1/4W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200, Pulse Withstanding

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.033" W (1.60mm x 0.85mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

-

CRCW06031K18FKEBC

Vishay Dale

제조업체

Vishay Dale

시리즈

CRCW-C

저항

1.18 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thick Film

특징

-

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

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