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RT0603BRE0769R8L

RT0603BRE0769R8L

참조 용

부품 번호 RT0603BRE0769R8L
PNEDA 부품 번호 RT0603BRE0769R8L
설명 RES SMD 69.8 OHM 0.1% 1/10W 0603
제조업체 Yageo
단가 견적 요청
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RT0603BRE0769R8L 리소스

브랜드 Yageo
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호RT0603BRE0769R8L
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장

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RT0603BRE0769R8L 사양

제조업체Yageo
시리즈RT
저항69.8 Ohms
공차±0.1%
전력 (와트)0.1W, 1/10W
구성Thin Film
특징-
온도 계수±50ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스0603 (1608 Metric)
공급자 장치 패키지0603
크기 / 치수0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)
높이-착석 (최대)0.022" (0.55mm)
종료 횟수2
실패율-

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저항

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공차

±1%

전력 (와트)

0.05W, 1/20W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±200ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0201 (0603 Metric)

공급자 장치 패키지

0201

크기 / 치수

0.024" L x 0.012" W (0.60mm x 0.30mm)

높이-착석 (최대)

0.010" (0.26mm)

종료 횟수

2

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저항

4.53 kOhms

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±0.1%

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구성

Thin Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

2512 (6432 Metric)

공급자 장치 패키지

2512

크기 / 치수

0.248" L x 0.122" W (6.30mm x 3.10mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

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제조업체

Panasonic Electronic Components

시리즈

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저항

23.2 Ohms

공차

±1%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thick Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±200ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0402 (1005 Metric)

공급자 장치 패키지

0402

크기 / 치수

0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)

높이-착석 (최대)

0.016" (0.40mm)

종료 횟수

2

실패율

-

PHP00805E1520BST1

Vishay Thin Film

제조업체

Vishay Thin Film

시리즈

PHP

저항

152 Ohms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.63W, 5/8W

구성

Thin Film

특징

Flame Proof, Moisture Resistant, Safety

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.080" L x 0.050" W (2.03mm x 1.27mm)

높이-착석 (최대)

0.033" (0.84mm)

종료 횟수

2

실패율

-

PHP00603E68R1BST1

Vishay Thin Film

제조업체

Vishay Thin Film

시리즈

PHP

저항

68.1 Ohms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.375W, 3/8W

구성

Thin Film

특징

Flame Proof, Moisture Resistant, Safety

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.064" L x 0.032" W (1.63mm x 0.81mm)

높이-착석 (최대)

0.020" (0.51mm)

종료 횟수

2

실패율

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