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SCRR1206S1-R100F

SCRR1206S1-R100F

참조 용

부품 번호 SCRR1206S1-R100F
PNEDA 부품 번호 SCRR1206S1-R100F
설명 RES SMD 100 MOHM 1% 1W 1206
제조업체 Delta Electronics/Cyntec
단가 견적 요청
재고 있음 6,948
창고 Shipped from Hong Kong SAR
예상 배송 2월 14 - 2월 19 (신속 배송 선택)
Guarantee 최대 1 년 [PNEDA- 보증] *

SCRR1206S1-R100F 리소스

브랜드 Delta Electronics/Cyntec
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호SCRR1206S1-R100F
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장

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SCRR1206S1-R100F 사양

제조업체Delta Electronics/Cyntec
시리즈SCRR
저항100 mOhms
공차±1%
전력 (와트)1W
구성Thick Film
특징-
온도 계수±100ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스1206 (3216 Metric)
공급자 장치 패키지1206
크기 / 치수0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm)
높이-착석 (최대)0.033" (0.85mm)
종료 횟수2
실패율-

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제조업체

Vishay Dale

시리즈

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저항

1.58 Ohms

공차

±1%

전력 (와트)

1.5W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200, Pulse Withstanding

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

2512 (6432 Metric)

공급자 장치 패키지

2512

크기 / 치수

0.248" L x 0.124" W (6.30mm x 3.15mm)

높이-착석 (최대)

0.028" (0.70mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

AC

저항

536 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200, Moisture Resistant

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

MMF

저항

2.61 Ohms

공차

±1%

전력 (와트)

0.25W, 1/4W

구성

Metal Film

특징

-

온도 계수

±50ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

MELF, 0204

공급자 장치 패키지

MELF

크기 / 치수

0.055" Dia x 0.138" L (1.40mm x 3.50mm)

높이-착석 (최대)

-

종료 횟수

2

실패율

-

RN73H1ETTP1102F25

KOA Speer Electronics

제조업체

KOA Speer Electronics

시리즈

*

저항

-

공차

-

전력 (와트)

-

구성

-

특징

-

온도 계수

-

작동 온도

-

패키지 / 케이스

-

공급자 장치 패키지

-

크기 / 치수

-

높이-착석 (최대)

-

종료 횟수

-

실패율

-

제조업체

Susumu

시리즈

RG

저항

1.5 kOhms

공차

±0.25%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±5ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.020" (0.50mm)

종료 횟수

2

실패율

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