SN74BCT8373ADWR
참조 용
| 부품 번호 | SN74BCT8373ADWR |
| PNEDA 부품 번호 | SN74BCT8373ADWR |
| 설명 | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC |
| 제조업체 | Texas Instruments |
| 단가 | 견적 요청 |
| 재고 있음 | 5,832 |
| 창고 | Shipped from Hong Kong SAR |
| 예상 배송 | 2월 24 - 3월 1 (신속 배송 선택) |
| Guarantee | 최대 1 년 [PNEDA- 보증] * |
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SN74BCT8373ADWR 리소스
| 브랜드 | Texas Instruments |
| ECAD Module |
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| Mfr. 부품 번호 | SN74BCT8373ADWR |
| 분류 | 반도체 › 로직 IC › 논리-특수 논리 |
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SN74BCT8373ADWR 사양
| 제조업체 | |
| 시리즈 | 74BCT |
| 논리 유형 | Scan Test Device with D-Type Latches |
| 공급 전압 | 4.5V ~ 5.5V |
| 비트 수 | 8 |
| 작동 온도 | 0°C ~ 70°C |
| 장착 유형 | Surface Mount |
| 패키지 / 케이스 | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| 공급자 장치 패키지 | 24-SOIC |
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제조업체 ON Semiconductor 시리즈 10EP 논리 유형 Differential Receiver/Driver 공급 전압 3V ~ 5.5V 비트 수 1 작동 온도 -40°C ~ 85°C 장착 유형 Surface Mount 패키지 / 케이스 8-TSSOP, 8-MSOP (0.118", 3.00mm Width) 공급자 장치 패키지 8-TSSOP |
