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SN74LS283NSR

SN74LS283NSR

참조 용

부품 번호 SN74LS283NSR
PNEDA 부품 번호 SN74LS283NSR
설명 IC BINARY FULL ADDERS 4BIT 16SO
제조업체 Texas Instruments
단가 견적 요청
재고 있음 6,498
창고 Shipped from Hong Kong SAR
예상 배송 11월 26 - 12월 1 (신속 배송 선택)
Guarantee 최대 1 년 [PNEDA- 보증] *

SN74LS283NSR 리소스

브랜드 Texas Instruments
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호SN74LS283NSR
분류반도체로직 IC논리-특수 논리

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SN74LS283NSR 사양

제조업체
시리즈74LS
논리 유형Binary Full Adder with Fast Carry
공급 전압4.75V ~ 5.25V
비트 수4
작동 온도0°C ~ 70°C
장착 유형Surface Mount
패키지 / 케이스16-SOIC (0.209", 5.30mm Width)
공급자 장치 패키지16-SO

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시리즈

74SSTV

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공급 전압

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비트 수

13, 26

작동 온도

0°C ~ 70°C

장착 유형

Surface Mount

패키지 / 케이스

96-LFBGA

공급자 장치 패키지

96-LFBGA (13.5x5.5)

SY10EL16VCKC

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제조업체

Microchip Technology

시리즈

10EL

논리 유형

Differential Receiver

공급 전압

3.3V, 5V

비트 수

1

작동 온도

-40°C ~ 85°C

장착 유형

Surface Mount

패키지 / 케이스

8-TSSOP, 8-MSOP (0.118", 3.00mm Width)

공급자 장치 패키지

8-MSOP

SN74ABT18502PMR

Texas Instruments

제조업체

시리즈

74ABT

논리 유형

Scan Test Device with Registered Bus Transceiver

공급 전압

4.5V ~ 5.5V

비트 수

18

작동 온도

-40°C ~ 85°C

장착 유형

Surface Mount

패키지 / 케이스

64-LQFP

공급자 장치 패키지

64-LQFP (10x10)

SY100EL17VZG-TR

Microchip Technology

제조업체

Microchip Technology

시리즈

100EL

논리 유형

Differential Receiver

공급 전압

3.3V, 5V

비트 수

4

작동 온도

-40°C ~ 85°C

장착 유형

Surface Mount

패키지 / 케이스

20-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

공급자 장치 패키지

20-SOIC

SN74BCT8374ANTG4

Texas Instruments

제조업체

시리즈

74BCT

논리 유형

Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops

공급 전압

4.5V ~ 5.5V

비트 수

8

작동 온도

0°C ~ 70°C

장착 유형

Through Hole

패키지 / 케이스

24-DIP (0.300", 7.62mm)

공급자 장치 패키지

24-PDIP

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