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SR1206FR-7W1K8L

SR1206FR-7W1K8L

참조 용

부품 번호 SR1206FR-7W1K8L
PNEDA 부품 번호 SR1206FR-7W1K8L
설명 RES SMD 1206 1/2W 1% 1.8K OHM
제조업체 Yageo
단가 견적 요청
재고 있음 52,722
창고 Shipped from Hong Kong SAR
예상 배송 3월 24 - 3월 29 (신속 배송 선택)
Guarantee 최대 1 년 [PNEDA- 보증] *

SR1206FR-7W1K8L 리소스

브랜드 Yageo
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호SR1206FR-7W1K8L
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장

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  • SR1206FR-7W1K8L Distributor

SR1206FR-7W1K8L 사양

제조업체Yageo
시리즈SR
저항1.8 kOhms
공차±1%
전력 (와트)0.5W, 1/2W
구성Thick Film
특징Automotive AEC-Q200, Pulse Withstanding
온도 계수±200ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스1206 (3216 Metric)
공급자 장치 패키지1206
크기 / 치수0.122" L x 0.063" W (3.10mm x 1.60mm)
높이-착석 (최대)0.026" (0.65mm)
종료 횟수2
실패율-

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저항

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-

패키지 / 케이스

-

공급자 장치 패키지

-

크기 / 치수

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Stackpole Electronics

시리즈

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저항

910 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.063W, 1/16W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0402 (1005 Metric)

공급자 장치 패키지

0402

크기 / 치수

0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)

높이-착석 (최대)

0.016" (0.40mm)

종료 횟수

2

실패율

-

CRCW12181K02FKEK

Vishay Dale

제조업체

Vishay Dale

시리즈

CRCW

저항

1.02 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

1W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1218 (3246 Metric)

공급자 장치 패키지

1218

크기 / 치수

0.122" L x 0.181" W (3.10mm x 4.60mm)

높이-착석 (최대)

0.024" (0.60mm)

종료 횟수

2

실패율

-

CRCW08051R80FKEAHP

Vishay Dale

제조업체

Vishay Dale

시리즈

CRCW-HP

저항

1.8 Ohms

공차

±1%

전력 (와트)

0.5W, 1/2W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200, Pulse Withstanding

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.020" (0.50mm)

종료 횟수

2

실패율

-

SMM02040D3001BB100

Vishay Beyschlag

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Vishay Beyschlag

시리즈

SMM0204

저항

3 kOhms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.25W, 1/4W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200, Pulse Withstanding

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 125°C

패키지 / 케이스

MELF, 0204

공급자 장치 패키지

Mini MELF

크기 / 치수

0.055" Dia x 0.142" L (1.40mm x 3.60mm)

높이-착석 (최대)

-

종료 횟수

2

실패율

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