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AT1206CRD075K1L

AT1206CRD075K1L

참조 용

부품 번호 AT1206CRD075K1L
PNEDA 부품 번호 AT1206CRD075K1L
설명 RES SMD 5.1K OHM 0.25% 1/4W 1206
제조업체 Yageo
단가 견적 요청
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AT1206CRD075K1L 리소스

브랜드 Yageo
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호AT1206CRD075K1L
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장

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AT1206CRD075K1L 사양

제조업체Yageo
시리즈AT
저항5.1 kOhms
공차±0.25%
전력 (와트)0.25W, 1/4W
구성Thin Film
특징Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200, Moisture Resistant
온도 계수±25ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스1206 (3216 Metric)
공급자 장치 패키지1206
크기 / 치수0.122" L x 0.063" W (3.10mm x 1.60mm)
높이-착석 (최대)0.026" (0.65mm)
종료 횟수2
실패율-

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저항

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공차

±5%

전력 (와트)

0.063W, 1/16W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200, Pulse Withstanding

온도 계수

±200ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0402 (1005 Metric)

공급자 장치 패키지

0402

크기 / 치수

0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)

높이-착석 (최대)

0.016" (0.40mm)

종료 횟수

2

실패율

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Samsung Electro-Mechanics

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저항

2.4 Ohms

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±1%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thick Film

특징

Anti-Sulfur, Moisture Resistant

온도 계수

±300ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.022" (0.55mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Yageo

시리즈

RT

저항

1.5 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.125W, 1/8W

구성

Thin Film

특징

-

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.024" (0.60mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Susumu

시리즈

RG

저항

2.61 kOhms

공차

±0.1%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.020" (0.50mm)

종료 횟수

2

실패율

-

CRGH2512J330K

TE Connectivity Passive Product

제조업체

TE Connectivity Passive Product

시리즈

CRGH, Neohm

저항

330 kOhms

공차

±5%

전력 (와트)

2W

구성

Thick Film

특징

-

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

2512 (6432 Metric)

공급자 장치 패키지

2512

크기 / 치수

0.252" L x 0.126" W (6.40mm x 3.20mm)

높이-착석 (최대)

-

종료 횟수

2

실패율

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