로직 IC

SN74ABT18504PMRG4

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Universal Bus Transceivers
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 20
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 64-LQFP
• 공급자 장치 패키지: 64-LQFP (10x10)

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SN74ABT18640DGGR

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 18
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 56-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 56-TSSOP

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SN74ABT18640DL

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 18
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 56-SSOP

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SN74ABT18640DLR

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 18
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 56-SSOP

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SN74ABT18640DLRG4

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 18
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 56-SSOP

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SN74ABT18646PM

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device With Transceivers And Registers
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 18
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 64-LQFP
• 공급자 장치 패키지: 64-LQFP (10x10)

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SN74ABT18652PM

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device With Transceivers And Registers
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 18
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 64-LQFP
• 공급자 장치 패키지: 64-LQFP (10x10)

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SN74ABT8245DW

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceivers
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 8
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 24-SOIC

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SN74ABT8245DWG4

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceivers
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 8
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 24-SOIC

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SN74ABT8245DWR

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceivers
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 8
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 24-SOIC

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SN74ABT8543DL

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SSOP

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 8
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 28-SSOP

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SN74ABT8543DLR

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 8
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 28-SSOP

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SN74ABT8543DW

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SOIC

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 8
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 28-SOIC

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SN74ABT8543DWR

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 8
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 28-SOIC

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SN74ABT8543DWRE4

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 8
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 28-SOIC

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SN74ABT8543DWRG4

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 8
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 28-SOIC

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SN74ABT8646DL

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 8
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 28-SSOP

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SN74ABT8646DLR

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 8
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 28-SSOP

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SN74ABT8646DW

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 8
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 28-SOIC

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SN74ABT8646DWR

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 8
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 28-SOIC

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SN74ABT8646DWRE4

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 8
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 28-SOIC

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SN74ABT8646DWRG4

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 8
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 28-SOIC

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SN74ABT8652DL

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 8
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 28-SSOP

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SN74ABT8652DLR

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 8
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 28-SSOP

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SN74ABT8652DLRG4

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 8
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 28-SSOP

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SN74ABT8652DW

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 8
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 28-SOIC

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SN74ABT8652DWR

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 8
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 28-SOIC

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SN74ABT8652DWRE4

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 8
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 28-SOIC

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SN74ABT8652DWRG4

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 8
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 28-SOIC

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SN74ABT8952DL

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP

• 제조업체:
• 시리즈: 74ABT
• 논리 유형: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
• 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
• 비트 수: 8
• 작동 온도: -40°C ~ 85°C
• 장착 유형: Surface Mount
• 패키지 / 케이스: 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
• 공급자 장치 패키지: 28-SSOP

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