로직 IC

부품 번호	설명	재고 있음
SN74BCT8240ANT Texas Instruments	논리-특수 논리 IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP 제조업체: 시리즈: 74BCT 논리 유형: Scan Test Device with Inverting Buffers 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V 비트 수: 8 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Through Hole 패키지 / 케이스: 24-DIP (0.300", 7.62mm) 공급자 장치 패키지: 24-PDIP	재고 있음7,362
SN74BCT8240ANTG4 Texas Instruments	논리-특수 논리 IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP 제조업체: 시리즈: 74BCT 논리 유형: Scan Test Device with Inverting Buffers 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V 비트 수: 8 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Through Hole 패키지 / 케이스: 24-DIP (0.300", 7.62mm) 공급자 장치 패키지: 24-PDIP	재고 있음4,788
SN74BCT8244ADW Texas Instruments	논리-특수 논리 IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC 제조업체: 시리즈: 74BCT 논리 유형: Scan Test Device with Buffers 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V 비트 수: 8 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Surface Mount 패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) 공급자 장치 패키지: 24-SOIC	재고 있음2,888
SN74BCT8244ADWR Texas Instruments	논리-특수 논리 IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC 제조업체: 시리즈: 74BCT 논리 유형: Scan Test Device with Buffers 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V 비트 수: 8 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Surface Mount 패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) 공급자 장치 패키지: 24-SOIC	재고 있음3,472
SN74BCT8244ANT Texas Instruments	논리-특수 논리 IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP 제조업체: 시리즈: 74BCT 논리 유형: Scan Test Device with Buffers 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V 비트 수: 8 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Through Hole 패키지 / 케이스: 24-DIP (0.300", 7.62mm) 공급자 장치 패키지: 24-PDIP	재고 있음5,850
SN74BCT8244ANTG4 Texas Instruments	논리-특수 논리 IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP 제조업체: 시리즈: 74BCT 논리 유형: Scan Test Device with Buffers 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V 비트 수: 8 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Through Hole 패키지 / 케이스: 24-DIP (0.300", 7.62mm) 공급자 장치 패키지: 24-PDIP	재고 있음5,940
SN74BCT8245ADW Texas Instruments	논리-특수 논리 IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC 제조업체: 시리즈: 74BCT 논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceivers 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V 비트 수: 8 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Surface Mount 패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) 공급자 장치 패키지: 24-SOIC	재고 있음8,748
SN74BCT8245ADWR Texas Instruments	논리-특수 논리 IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC 제조업체: 시리즈: 74BCT 논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceivers 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V 비트 수: 8 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Surface Mount 패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) 공급자 장치 패키지: 24-SOIC	재고 있음7,002
SN74BCT8245ANT Texas Instruments	논리-특수 논리 IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP 제조업체: 시리즈: 74BCT 논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceivers 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V 비트 수: 8 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Through Hole 패키지 / 케이스: 24-DIP (0.300", 7.62mm) 공급자 장치 패키지: 24-PDIP	재고 있음776
SN74BCT8245ANTG4 Texas Instruments	논리-특수 논리 IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP 제조업체: 시리즈: 74BCT 논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceivers 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V 비트 수: 8 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Through Hole 패키지 / 케이스: 24-DIP (0.300", 7.62mm) 공급자 장치 패키지: 24-PDIP	재고 있음5,148
SN74BCT8373ADW Texas Instruments	논리-특수 논리 IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC 제조업체: 시리즈: 74BCT 논리 유형: Scan Test Device with D-Type Latches 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V 비트 수: 8 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Surface Mount 패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) 공급자 장치 패키지: 24-SOIC	재고 있음6,822
SN74BCT8373ADWR Texas Instruments	논리-특수 논리 IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC 제조업체: 시리즈: 74BCT 논리 유형: Scan Test Device with D-Type Latches 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V 비트 수: 8 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Surface Mount 패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) 공급자 장치 패키지: 24-SOIC	재고 있음5,832
SN74BCT8373ADWRE4 Texas Instruments	논리-특수 논리 IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC 제조업체: 시리즈: 74BCT 논리 유형: Scan Test Device with D-Type Latches 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V 비트 수: 8 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Surface Mount 패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) 공급자 장치 패키지: 24-SOIC	재고 있음8,028
SN74BCT8373ADWRG4 Texas Instruments	논리-특수 논리 IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC 제조업체: 시리즈: 74BCT 논리 유형: Scan Test Device with D-Type Latches 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V 비트 수: 8 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Surface Mount 패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) 공급자 장치 패키지: 24-SOIC	재고 있음4,662
SN74BCT8373ANT Texas Instruments	논리-특수 논리 IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP 제조업체: 시리즈: 74BCT 논리 유형: Scan Test Device with D-Type Latches 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V 비트 수: 8 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Through Hole 패키지 / 케이스: 24-DIP (0.300", 7.62mm) 공급자 장치 패키지: 24-PDIP	재고 있음6,696
SN74BCT8374ADW Texas Instruments	논리-특수 논리 IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC 제조업체: 시리즈: 74BCT 논리 유형: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V 비트 수: 8 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Surface Mount 패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) 공급자 장치 패키지: 24-SOIC	재고 있음8,082
SN74BCT8374ADWR Texas Instruments	논리-특수 논리 IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC 제조업체: 시리즈: 74BCT 논리 유형: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V 비트 수: 8 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Surface Mount 패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) 공급자 장치 패키지: 24-SOIC	재고 있음7,290
SN74BCT8374ADWRE4 Texas Instruments	논리-특수 논리 IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC 제조업체: 시리즈: 74BCT 논리 유형: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V 비트 수: 8 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Surface Mount 패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) 공급자 장치 패키지: 24-SOIC	재고 있음2,952
SN74BCT8374ADWRG4 Texas Instruments	논리-특수 논리 IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC 제조업체: 시리즈: 74BCT 논리 유형: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V 비트 수: 8 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Surface Mount 패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) 공급자 장치 패키지: 24-SOIC	재고 있음4,896
SN74BCT8374ANT Texas Instruments	논리-특수 논리 IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP 제조업체: 시리즈: 74BCT 논리 유형: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V 비트 수: 8 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Through Hole 패키지 / 케이스: 24-DIP (0.300", 7.62mm) 공급자 장치 패키지: 24-PDIP	재고 있음8,532
SN74BCT8374ANTG4 Texas Instruments	논리-특수 논리 IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP 제조업체: 시리즈: 74BCT 논리 유형: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V 비트 수: 8 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Through Hole 패키지 / 케이스: 24-DIP (0.300", 7.62mm) 공급자 장치 패키지: 24-PDIP	재고 있음3,996
SN74F1016DW Texas Instruments	논리-특수 논리 IC DIODE ARRAY RC TERM 20-SOIC 제조업체: 시리즈: 74F 논리 유형: Schottky Barrier Diode Bus-Termination Array 공급 전압: - 비트 수: 16 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Surface Mount 패키지 / 케이스: 20-SOIC (0.295", 7.50mm Width) 공급자 장치 패키지: 20-SOIC	재고 있음6,858
SN74F1016DWR Texas Instruments	논리-특수 논리 IC DIODE ARRAY RC TERM 20-SOIC 제조업체: 시리즈: 74F 논리 유형: Schottky Barrier Diode Bus-Termination Array 공급 전압: - 비트 수: 16 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Surface Mount 패키지 / 케이스: 20-SOIC (0.295", 7.50mm Width) 공급자 장치 패키지: 20-SOIC	재고 있음3,753
SN74F1056D Texas Instruments	논리-특수 논리 IC ARRAY BUS-TERM 8BIT 16-SOIC 제조업체: 시리즈: 74F 논리 유형: Schottky Barrier Diode Bus-Termination Array 공급 전압: - 비트 수: 8 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Surface Mount 패키지 / 케이스: 16-SOIC (0.154", 3.90mm Width) 공급자 장치 패키지: 16-SOIC	재고 있음4,356
SN74F1056DR Texas Instruments	논리-특수 논리 IC ARRAY BUS-TERM 8BIT 16-SOIC 제조업체: 시리즈: 74F 논리 유형: Schottky Barrier Diode Bus-Termination Array 공급 전압: - 비트 수: 8 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Surface Mount 패키지 / 케이스: 16-SOIC (0.154", 3.90mm Width) 공급자 장치 패키지: 16-SOIC	재고 있음6,480
SN74F283D Texas Instruments	논리-특수 논리 IC FULL ADDER 4BIT BIN 16-SOIC 제조업체: 시리즈: 74F 논리 유형: Binary Full Adder with Fast Carry 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V 비트 수: 4 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Surface Mount 패키지 / 케이스: 16-SOIC (0.154", 3.90mm Width) 공급자 장치 패키지: 16-SOIC	재고 있음2,790
SN74F283DR Texas Instruments	논리-특수 논리 IC FULL ADDER 4BIT BIN 16-SOIC 제조업체: 시리즈: 74F 논리 유형: Binary Full Adder with Fast Carry 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V 비트 수: 4 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Surface Mount 패키지 / 케이스: 16-SOIC (0.154", 3.90mm Width) 공급자 장치 패키지: 16-SOIC	재고 있음4,410
SN74F283N Texas Instruments	논리-특수 논리 IC 4-BIT BIN FULL ADDER 16-DIP 제조업체: 시리즈: 74F 논리 유형: Binary Full Adder with Fast Carry 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V 비트 수: 4 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Through Hole 패키지 / 케이스: 16-DIP (0.300", 7.62mm) 공급자 장치 패키지: 16-PDIP	재고 있음20,748
SN74F283NSR Texas Instruments	논리-특수 논리 IC FULL ADDER 4BIT BIN 16SO 제조업체: 시리즈: 74F 논리 유형: Binary Full Adder with Fast Carry 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V 비트 수: 4 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Surface Mount 패키지 / 케이스: 16-SOIC (0.209", 5.30mm Width) 공급자 장치 패키지: 16-SO	재고 있음5,958
SN74F283NSRE4 Texas Instruments	논리-특수 논리 IC FULL ADDER 4BIT BIN 16SO 제조업체: 시리즈: 74F 논리 유형: Binary Full Adder with Fast Carry 공급 전압: 4.5V ~ 5.5V 비트 수: 4 작동 온도: 0°C ~ 70°C 장착 유형: Surface Mount 패키지 / 케이스: 16-SOIC (0.209", 5.30mm Width) 공급자 장치 패키지: 16-SO	재고 있음3,348

SN74BCT8240ANT

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

제조업체:
시리즈: 74BCT
논리 유형: Scan Test Device with Inverting Buffers
공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
비트 수: 8
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Through Hole
패키지 / 케이스: 24-DIP (0.300", 7.62mm)
공급자 장치 패키지: 24-PDIP

재고 있음7,362

SN74BCT8240ANTG4

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

제조업체:
시리즈: 74BCT
논리 유형: Scan Test Device with Inverting Buffers
공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
비트 수: 8
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Through Hole
패키지 / 케이스: 24-DIP (0.300", 7.62mm)
공급자 장치 패키지: 24-PDIP

재고 있음4,788

SN74BCT8244ADW

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

제조업체:
시리즈: 74BCT
논리 유형: Scan Test Device with Buffers
공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
비트 수: 8
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Surface Mount
패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
공급자 장치 패키지: 24-SOIC

재고 있음2,888

SN74BCT8244ADWR

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

제조업체:
시리즈: 74BCT
논리 유형: Scan Test Device with Buffers
공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
비트 수: 8
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Surface Mount
패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
공급자 장치 패키지: 24-SOIC

재고 있음3,472

SN74BCT8244ANT

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

제조업체:
시리즈: 74BCT
논리 유형: Scan Test Device with Buffers
공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
비트 수: 8
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Through Hole
패키지 / 케이스: 24-DIP (0.300", 7.62mm)
공급자 장치 패키지: 24-PDIP

재고 있음5,850

SN74BCT8244ANTG4

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

제조업체:
시리즈: 74BCT
논리 유형: Scan Test Device with Buffers
공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
비트 수: 8
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Through Hole
패키지 / 케이스: 24-DIP (0.300", 7.62mm)
공급자 장치 패키지: 24-PDIP

재고 있음5,940

SN74BCT8245ADW

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

제조업체:
시리즈: 74BCT
논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceivers
공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
비트 수: 8
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Surface Mount
패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
공급자 장치 패키지: 24-SOIC

재고 있음8,748

SN74BCT8245ADWR

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

제조업체:
시리즈: 74BCT
논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceivers
공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
비트 수: 8
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Surface Mount
패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
공급자 장치 패키지: 24-SOIC

재고 있음7,002

SN74BCT8245ANT

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

제조업체:
시리즈: 74BCT
논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceivers
공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
비트 수: 8
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Through Hole
패키지 / 케이스: 24-DIP (0.300", 7.62mm)
공급자 장치 패키지: 24-PDIP

재고 있음776

SN74BCT8245ANTG4

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

제조업체:
시리즈: 74BCT
논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceivers
공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
비트 수: 8
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Through Hole
패키지 / 케이스: 24-DIP (0.300", 7.62mm)
공급자 장치 패키지: 24-PDIP

재고 있음5,148

SN74BCT8373ADW

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

제조업체:
시리즈: 74BCT
논리 유형: Scan Test Device with D-Type Latches
공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
비트 수: 8
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Surface Mount
패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
공급자 장치 패키지: 24-SOIC

재고 있음6,822

SN74BCT8373ADWR

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

제조업체:
시리즈: 74BCT
논리 유형: Scan Test Device with D-Type Latches
공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
비트 수: 8
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Surface Mount
패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
공급자 장치 패키지: 24-SOIC

재고 있음5,832

SN74BCT8373ADWRE4

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

제조업체:
시리즈: 74BCT
논리 유형: Scan Test Device with D-Type Latches
공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
비트 수: 8
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Surface Mount
패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
공급자 장치 패키지: 24-SOIC

재고 있음8,028

SN74BCT8373ADWRG4

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

제조업체:
시리즈: 74BCT
논리 유형: Scan Test Device with D-Type Latches
공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
비트 수: 8
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Surface Mount
패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
공급자 장치 패키지: 24-SOIC

재고 있음4,662

SN74BCT8373ANT

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

제조업체:
시리즈: 74BCT
논리 유형: Scan Test Device with D-Type Latches
공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
비트 수: 8
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Through Hole
패키지 / 케이스: 24-DIP (0.300", 7.62mm)
공급자 장치 패키지: 24-PDIP

재고 있음6,696

SN74BCT8374ADW

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

제조업체:
시리즈: 74BCT
논리 유형: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
비트 수: 8
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Surface Mount
패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
공급자 장치 패키지: 24-SOIC

재고 있음8,082

SN74BCT8374ADWR

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

제조업체:
시리즈: 74BCT
논리 유형: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
비트 수: 8
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Surface Mount
패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
공급자 장치 패키지: 24-SOIC

재고 있음7,290

SN74BCT8374ADWRE4

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

제조업체:
시리즈: 74BCT
논리 유형: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
비트 수: 8
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Surface Mount
패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
공급자 장치 패키지: 24-SOIC

재고 있음2,952

SN74BCT8374ADWRG4

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

제조업체:
시리즈: 74BCT
논리 유형: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
비트 수: 8
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Surface Mount
패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
공급자 장치 패키지: 24-SOIC

재고 있음4,896

SN74BCT8374ANT

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

제조업체:
시리즈: 74BCT
논리 유형: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
비트 수: 8
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Through Hole
패키지 / 케이스: 24-DIP (0.300", 7.62mm)
공급자 장치 패키지: 24-PDIP

재고 있음8,532

SN74BCT8374ANTG4

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

제조업체:
시리즈: 74BCT
논리 유형: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
비트 수: 8
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Through Hole
패키지 / 케이스: 24-DIP (0.300", 7.62mm)
공급자 장치 패키지: 24-PDIP

재고 있음3,996

SN74F1016DW

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC DIODE ARRAY RC TERM 20-SOIC

제조업체:
시리즈: 74F
논리 유형: Schottky Barrier Diode Bus-Termination Array
공급 전압: -
비트 수: 16
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Surface Mount
패키지 / 케이스: 20-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
공급자 장치 패키지: 20-SOIC

재고 있음6,858

SN74F1016DWR

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC DIODE ARRAY RC TERM 20-SOIC

제조업체:
시리즈: 74F
논리 유형: Schottky Barrier Diode Bus-Termination Array
공급 전압: -
비트 수: 16
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Surface Mount
패키지 / 케이스: 20-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
공급자 장치 패키지: 20-SOIC

재고 있음3,753

SN74F1056D

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC ARRAY BUS-TERM 8BIT 16-SOIC

제조업체:
시리즈: 74F
논리 유형: Schottky Barrier Diode Bus-Termination Array
공급 전압: -
비트 수: 8
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Surface Mount
패키지 / 케이스: 16-SOIC (0.154", 3.90mm Width)
공급자 장치 패키지: 16-SOIC

재고 있음4,356

SN74F1056DR

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC ARRAY BUS-TERM 8BIT 16-SOIC

제조업체:
시리즈: 74F
논리 유형: Schottky Barrier Diode Bus-Termination Array
공급 전압: -
비트 수: 8
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Surface Mount
패키지 / 케이스: 16-SOIC (0.154", 3.90mm Width)
공급자 장치 패키지: 16-SOIC

재고 있음6,480

SN74F283D

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC FULL ADDER 4BIT BIN 16-SOIC

제조업체:
시리즈: 74F
논리 유형: Binary Full Adder with Fast Carry
공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
비트 수: 4
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Surface Mount
패키지 / 케이스: 16-SOIC (0.154", 3.90mm Width)
공급자 장치 패키지: 16-SOIC

재고 있음2,790

SN74F283DR

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC FULL ADDER 4BIT BIN 16-SOIC

제조업체:
시리즈: 74F
논리 유형: Binary Full Adder with Fast Carry
공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
비트 수: 4
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Surface Mount
패키지 / 케이스: 16-SOIC (0.154", 3.90mm Width)
공급자 장치 패키지: 16-SOIC

재고 있음4,410

SN74F283N

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC 4-BIT BIN FULL ADDER 16-DIP

제조업체:
시리즈: 74F
논리 유형: Binary Full Adder with Fast Carry
공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
비트 수: 4
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Through Hole
패키지 / 케이스: 16-DIP (0.300", 7.62mm)
공급자 장치 패키지: 16-PDIP

재고 있음20,748

SN74F283NSR

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC FULL ADDER 4BIT BIN 16SO

제조업체:
시리즈: 74F
논리 유형: Binary Full Adder with Fast Carry
공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
비트 수: 4
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Surface Mount
패키지 / 케이스: 16-SOIC (0.209", 5.30mm Width)
공급자 장치 패키지: 16-SO

재고 있음5,958

SN74F283NSRE4

Texas Instruments

논리-특수 논리

IC FULL ADDER 4BIT BIN 16SO

제조업체:
시리즈: 74F
논리 유형: Binary Full Adder with Fast Carry
공급 전압: 4.5V ~ 5.5V
비트 수: 4
작동 온도: 0°C ~ 70°C
장착 유형: Surface Mount
패키지 / 케이스: 16-SOIC (0.209", 5.30mm Width)
공급자 장치 패키지: 16-SO

재고 있음3,348

Send Message

Certifications

자원

지원

Social Media

Need Help?
Send Message